深圳鸿怡电子生产定制的WLCSP30pin-0.4mm-2.537x2.114mm定制合金翻盖探针芯片测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家
适用WLCSP30pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,支持芯片可靠性测试、芯片功能性测试、芯片高性能测试
WLCSP30pin芯片测试夹具产品简介:
本款WLCSP30pin芯片无大电流、高频、高压测试要求,用于烧录,导通即可
WLCSP30pin芯片烧录座结构:翻盖式
芯片烧录座材料:合金