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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: SOP14pin-0.5mm-2X3.26mm-017-SGH芯片测试座socket

SOP14pin芯片测试座socket规格参数：
生产厂家品牌：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：SOP
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*3.26mm
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: CQFP144pin-0.5mm-24*24mm0160-KNH芯片测试座

CQFP144pin芯片测试座sockeet规格参数：
生产厂家品牌：鸿怡电子-HMILU
支持芯片封装形式：CQFP/QFP
芯片引脚：144pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：24*24mm
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: 定制QFP144测试座 QFP芯片测试座 IC测试座工厂直销

1、应用Pitch:0.25/0.3/0.4/0.5/0.65/0.8pitch等
2、材料：FR4/PPS/PEI/Torlon/Peek/Peek+Ceramic
3、适用封种：BGA/QFP/QFN/WCSP等
4、结构：双扣、翻盖旋钮、翻盖、Open-top
5、接触方式：探针...
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: TQFP32 烧录座 0.5引脚间距 FQFP32 QFP32转DIP32 编程座烧写座

适用于QFP/LQFP/FQFP/TQFP封装的32脚芯片;
适配尺寸：7*7mm(不含引脚）间距0.5mm；
QFP32转DIP32，双层板底板引出为双列直插排针，引脚间距2.54mm（100mil），宽度15.2mm（600mil）
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: QFP100 IC测试治具POGOPIN接触式翻盖结构

应用集成：QFP100芯片;
结构：翻盖式接触式：
POGOPIN定制：是的;
manual或手动和自动作为一个整体，定位精确，操作方便，使用进口探针;
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: DFN8-0.5(3*3)翻盖探针芯片测试座

WSON8烧录座DFN8-0.5间距3*3mm 翻盖探针测试座MLP8编程座
工厂直销欢迎批发质优价廉！性能稳定！寿命长！
翻盖探针测试座，体积小,WSON\QFN\DFN8-0.5ANDK自有品牌，最快一天交货！
【0.5间距/带板...
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: DFN6-0.65(2*2)下压探针芯片老化测试座

工厂直供 DFN6测试座WSON6-0.65转接座QFN6 2*2mm下压探针老化座
工厂直销店铺欢迎批发，测试座种类齐全各种封装保证品质，性价比高！
下压探针测试座，寿命长 DFN6-0.65 ANDK自有品牌，大量现货当天发！...
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: 苹果6S PLUS触摸屏IC测试治具定制品

iPhone6S触摸IC测试架苹果6S plus 触摸屏IC测试治具专业定制
iPhone 6S 、6S plus 触摸屏IC测试架！工厂定制！专业快速！欢迎来电咨询
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: QFN40-0.4翻盖双层板IC烧录座

产品用途:编程座、测试座，对QFN40的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN40引脚间距0.4mm
测试座:QFN40-0.4
特点:采用U型顶针，接触更稳定
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: QFN36-0.4翻盖弹片IC测试老化座

产品用途:编程座、测试座，对QFN36的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN36引脚间距0.4mm
测试座:QFN36-0.4
特点:采用U型顶针，接触更稳定
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: QFN36-0.5翻盖弹片双层板IC测试座

产品用途:编程座、测试座，对QFN36的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN36引脚间距0.5mm
测试座:QFN36-0.5
特点:采用U型顶针，接触更稳定
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[鸿怡动态]为什么很多IC封装公司和半导体公司需要IC测试？2018年05月18日 15:09: 好的晶圆单元将被封装成一个芯片。我们知道，芯片是专为特定目的而设计的。因此，当您制作第一个样品时，您需要使用IC功能测试插座和故障分析测试插座来检查其工作对于很多测试来说，它将成为一个完美的解决方案，然后芯片将进入小批量测试阶段。当好的时候，IC测试座将量产。当生产加工时，生产测试即将到来。; 阅读（148）标签：

[行业资讯]探针测试座中探针的作用详解2017年08月26日 10:24: IC测试探针的选择起着至关重要的一部，鸿怡电子生产、研发的IC测试治具，探针均选用日本进口探针。保证客户测试性能稳定的同时，寿命也更加长。; 阅读（227）标签：

[常见问题]弹片测试座和探针测试座的区别？2017年06月08日 10:02: 一、什么是探针？探针有那些常用种类？探针是电测试的接触媒介，为高端精密型电子五金元器件。 1.ICT探针　（ICT series Probes) 2.界面探针(Interface Probes) 3.微型探针（MicroSeries Probes) 4.开关探针（Switch Probes) 5.高频探针（Coaxial Probes) 6.旋转探针（Rotator Probes) 7.高电流探针（High Current Probes) 8.半导体探针 (Semicond; 阅读（1167）标签：

[行业资讯]鸿怡电子：做最专业的IC测试治具2017年05月25日 10:33: 对于IC测试治具来说，产品的稳定性和使用寿命也非常重要。测试治具往往需要根据实际测试情况，选用不同探针，基于人性化的设计，探针可更换，便于拆卸、维护，这些都要求测试治具的稳定性能和使用寿命。; 阅读（119）标签：

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