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: 慧荣SM2258H转BGA316一拖二SSD测试治具

工厂直销慧荣SM2258H主控测试BGA316芯片，一块测试板+两个BGA316测试座。
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[行业资讯]SK海力士宣布将停产36层和48层3D NAND2019年05月07日 17:31: SK海力士对外宣布将停止生产成本相对高的3D NAND初期产品－2代（36层）、3代（48层），并提高72层的生产比重。下半年则计划利用96层4D NAND产品刺激SSD、移动市场。青州新M15工厂考量目前的需求量，量产速度将比原计划慢，预计SK海力士今年的NAND晶圆投入量会比去年减少10％以上。 SK海力士对此表示，在存储器需求不确定、期待需求恢复的市场中，将集中精力在降低成本和确保品质。未来针对DRAM领域，SK海力士将着重转换细微工程。首先将逐渐扩大第一代10纳米; 阅读（65）标签：

[行业资讯]SK海力士推出创新的ZNS SSD用于数据存储2019年04月01日 18:10: SK海力士推出创新的ZNS SSD用于数据存储最近，在位于加利福尼亚州圣何塞的OpenCompute Project（OCP）中，SK海力士展示了用于数据中心的Zoned Namedspaces（ZNS）SSD。 SK海力士指出，与之前的SSD产品相比，新款ZNS SSD的速度和可靠性提高了30％，使用寿命更长。值得注意的是，它还具有数据分类存储功能。普通SSD通常在存储音乐，照片和视频时不考虑数据类型。由于海力士独立开发的ZNS数据管理技术，新的ZNS SSD可; 阅读（133）标签：

[行业资讯]SSD主控芯片CP测试你真的知道么？2019年03月27日 16:49: 在芯片测试领域，主要分为两部分测试，业界通俗的叫法是CP和FT，我们今天主要谈谈CP的问题。什么是CP测试？CP是（ChipProbe）是缩写，指的是芯片在foundry流片回来后，需要在wafer level 进行简单的DC和功能测试，主要是通过探针卡的探针扎到芯片PAD上，然后通过ATE输入激励信号，测试芯片的输出响应。 CP测试的工具如下：大多数情况下，特别是在国内，我们目前在CP测试上选用的探针都还是悬臂针(也有叫环氧针的，因为针是用环氧树脂固定的缘故)。这种; 阅读（161）标签：

[行业资讯]Flash芯片的分类2019年03月19日 18:28: Flash又分NAND Flash和NOR Flash，NOR型存储内容以编码为主，其功能多与运算相关；NAND型主要功能是存储资料，如数码相机中所用的记忆卡。现在大部分的SSD都是用来存储不易丢失的资料，所以SSD存储单元会选择NAND Flash芯片。这里我们讲的就是SSD中的NAND Flash芯片。针对flash芯片的测试，鸿怡电子可以提供完整的flash芯片测试治具及其解决方案。（1）Nor Flash：主要用来执行片上程序优点：具有很好的读写性能和随机访问性; 阅读（64）标签：

[行业资讯]主控芯片AS2258支持最新製程3D NAND2019年02月19日 16:06: 随着大数据需求爆发，电子产品的发展与技术进步，影片、小视频、音乐、照片等各种形式的数据量持续爆增，持续推动数据存储市场需求不断增长。 SSD所具备大容量、高稳定、高速度、低功耗等优势，为消费者带来更加流畅的用户体验，并推动SSD市场规模不断增长，2018年全球SSD市场规模已超过2亿台，未来将持续扩大在市场上的应用。 SSD大容量的关键在于NAND Flash技术的发展。随着原厂技术的进步，3D NAND制程良率与产能不断提升，现已全面进入3D NAND时代 2019年将逐步; 阅读（256）标签：

[行业资讯]慧荣SM2262EN SSD主控支持96层3D NAND2018年11月08日 14:49: 伴随着大数据以及云时代的来临，人们对于各种数据的应用需求也日渐增高，无处不在的智能设备与无处不在的海量数据存储持续上升。前不久在深圳举办的 “闪存市场峰会〞上，慧荣科技展示出全系列PCIe NVMe SSD控制芯片解决方案。其中，有专为企业及数据中心应用所设计的SM2270双模控制芯片方案，提供高性能、大容量、高可靠性和低延迟设计，并支持Open-Channel的应用，同时也可搭载Turnkey固件以支持标准NVMe协议；此外，还展出针对消费级SSD所设计的高效; 阅读（371）标签：

[鸿怡动态]用于SSD固态硬盘芯片的开卡测试方案板2018年11月05日 17:43: 为大家介绍几款用于ssd固态硬盘/U盘板芯片开卡量产测试的方案板和flash ic测试座 SSD NAND闪存SM2256K主控测试解决方案适用于BGA152 132 100 88 LGA60 TSOP48 96闪存4合1多个PCB板该测试板采用SM2256K主控，可支持BGA152 / 132/100/88 / LGA60，TSOP84与DIP48（4CE测试）和DIP96（8CE测试）等多个封装闪存芯片测试，测试座可自由互换。a）为了测试TSOP48封装的闪存，我们可以同; 阅读（339）标签：

[鸿怡动态]鸿怡SSD固态硬盘测试座的主要功能是什么？2018年09月25日 17:49: 深圳市鸿怡电子有限公司是一家集科研，生产，销售为一体的科技型高科技企业。我公司专门研究和生产各种IC的测试座，老化座，烧录座和集成电路功能验证的集成电路应用功能。; 阅读（102）标签：

[鸿怡动态]BGA152探针测试座 BGA132 Flash烧录编程和测试2018年03月08日 10:40: 震撼发布，十七年专注，鸿怡电子又一颠覆flash测试行业的新产品BGA132/152探针测试座横空出世，我们郑重承诺，我们BGA132/152探针测试座保修一年，可以维修！其他弹片测试座不能维修！探针座的额定电流，频率，电阻值，寿命等性能都远远强于弹片座子，并且可以维修，芯片测试良率提高3%-8%，尤其对B13/B16的晶元测试非常稳定。; 阅读（304）标签：

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