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热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: PLCC20测试座IC插座 ic老化生产厂家 PLCC SOCKET PLCC老化插座

定制PLCC合金翻盖IC测试座
1、可单独提供socket和布板图供客户做测试板；
2、客户提供现成的PCBA板，我公司直接将socket精准的固定在产品板之上，无需layout,大大降低测试成本和时间。
可按需...
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: SOP24-1.27下压弹片老化座 300mil

工厂直销店铺，品质优良！
SOP24(28)-1.27老化座大量现货当天发！
【本款老化座适配IC规格：SOP封装、24脚、引脚间距1.27mm、芯片本体（不含引脚）宽度7.5mm（300mil）】
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: BGA144-0.8下压弹片老化测试座国芯GX3011B 测试座

国芯GX3011B 测试座老化座烧录座 BGA144 IC插座 0.8间距深圳市鸿怡电子有限公司为国芯GX3011B这款芯片（BGA144 10*10mm pitch：0.8mm）专门定制的一款可以上自动机台的下压弹片测试座！性能稳定，寿命长，性价比...
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: SSOP38-0.5下压弹片IC测试老化座

工厂大量现货 SSOP38 芯片测试座 ots38-0.5-02 弹跳镀金双触点 IC老化座
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: SSOP30(34)-0.65下压弹片IC烧录座

本款烧录座适配芯片规格：SSOP/TSSOP封装、30PIN、引脚间距0.65mm、芯片本体（不含引脚）宽度5.3-5.7mm
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: SSOP28(34)-0.65下压弹片IC烧录座

本款烧录座适配芯片规格：SSOP/TSSOP封装、28PIN、引脚间距0.65mm、芯片本体（不含引脚）宽度5.3-5.7mm
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: SOP28(28)-1.27下压弹片IC烧录座

本款烧录座适配芯片规格：SOP封装、28PIN、引脚间距1.27mm、芯片本体（不含引脚）宽度7.5mm
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: SSOP20(28)-0.65下压弹片IC测试座

本款烧录座适配芯片规格：SSOP/TSSOP封装、20PIN；
引脚间距0.65mm、芯片本体（不含引脚）宽度4.4mm
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: QFN56-0.5翻盖弹片IC老化座

产品用途:编程座、测试座，对QFN56的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN56引脚间距0.5mm
测试座:QFN56-0.5
特点:采用U型顶针，接触更稳定
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: QFN28下压弹片IC老化座

产品用途:编程座、测试座，对QFN28的IC芯片进行烧写、测试
适用封装:QFN28引脚间距0.4mm
测试座:QFN28-0.4
特点:采用U型顶针，接触更稳定
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: QFN24-0.5翻盖弹片芯片老化测试座

产品用途：编程座、测试座，对QFN24的IC芯片进行烧写、测试
适用封装： QFN24，MLP24，MLF24 引脚间距0.5mm
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: QFN20-0.5间距翻盖弹片芯片老化座

产品用途：编程座、测试座，对QFN20的IC芯片进行烧写、测试
适用封装： QFN20，MLP20，MLF20 引脚间距0.5mm
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: QFN12-0.5(3*3)翻盖弹片芯片老化测试座

产品用途：编程座、测试座，对QFN的IC芯片进行烧写、测试
适用封装： QFN12 引脚间距0.5mm
测试座： QFN12-0.5
特点：采用U型顶针，接触更稳定
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: QFP64下压弹片芯片烧录座

产品用途：编程座、测试座，对QFP64的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFN64引脚间距0.5mm
测试座：QFP64-0.5烧录座
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: QFP48下压弹片芯片烧录座

产品用途：编程座、测试座，对QFP48的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFP48引脚间距0.5mm
测试座：QFP48-0.5烧录座
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: QFP176芯片老化座

产品用途：编程座、测试座，对QFP176的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFP176、引脚间距0.5mm
测试座：QFP176-0.5-06
特点:四周按芯片顺序引出所有引脚
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: QFP44下压弹片芯片老化座

产品用途：编程座、测试座，对QFP44的IC芯片进行烧写、测试
适用封装：QFP44引脚间距0.8mm
测试座：QFP4-0.8老化座
特点：底部引出引脚为不规则排列
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: QFP80下压弹片芯片老化座

产品用途：老化座、测试座，对QFP80的IC芯片进行测试适用封装：TQFP80、 QFP80、引脚间距0.5mm 测试座： IC234-0804-001 特点：适用于TQFP80、 QFP80、引脚间距0.5mm的IC
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[新闻中心]测试座socket篇--2023年最全半导体IC测试座最新定义2023年06月14日 16:46: 2023年最全半导体IC测试座最新定义--测试座socket篇根据鸿怡电子IC测试座工程师介绍：IC测试座几乎在每个行业的叫法都不一样（欢迎对号入座） 1、IC test socket、IC socket、芯片socket 2、芯片测试座 3、芯片测试夹具、IC测试夹具 4、IC测试治具、芯片测试治具 5、各封装+测试座或socket（如QFN测试座、BGA测试座、QFP测试座等） 6、芯片插座、IC插座、IC座、芯片插座、芯片基座 7、芯片测试架、IC测试工装夹具 8; 阅读（22）标签：新闻|产品

[鸿怡动态]鸿怡电子为您深度解析如何更好的完成HTOL老化测试。2022年06月23日 15:42: 前面文章中，我们多次介绍了有关于芯片老化测试的一些内容，因为随着国内集成电路的发展如火如荼。集成电路设计公司、晶圆厂、封测厂商数量增加。整个行业慢慢的都在国产化。而另人欣慰的是，集成电路的品质也得到了前所未有的重视。其中，与质量息息相关的可靠性测试也成为重中之重。今天我们就简单聊一聊：如何完美地做好可靠性测试中最重要的测试：高温工作寿命测试（简称老化测试或HTOL）。在上一篇文章中，我们也多次提到HTOL，那么什么是HTOL，HTOL（High Temper; 阅读（420）标签：

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