您好,欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网
鸿怡测试座,终身技术支持保修
当前位置: 首页 » 鸿怡电子产品中心

明星产品/ Star product

QFN40(实际下针下针22pin)-0.35mm-4x5mm合金下压探针烧录座
QFN40(实际下针下针22pin)-0.35mm-4x5mm合金下压探针烧录座 󰀡了解详情 在线咨询
鸿怡电子QFN48pin-0.35mm-5x5mm合金翻盖芯片测试座socket
鸿怡电子QFN48pin-0.35mm-5x5mm合金翻盖芯片测试座socket 󰀡了解详情 在线咨询
鸿怡电子QFN20pin-0.5mm-4x6mm防静电PEEK无磁翻盖探针芯片测试座socket
鸿怡电子QFN20pin-0.5mm-4x6mm防静电PEEK无磁翻盖探针芯片测试座socket 󰀡了解详情 在线咨询
LGA16pin-0.5mm-3*4.5mm-0010-KNL塑胶翻盖芯片测试座socket
LGA16pin-0.5mm-3*4.5mm-0010-KNL塑胶翻盖芯片测试座socket 󰀡了解详情 在线咨询
QFP128pin-0.5mm-14x20mm塑胶旋钮翻盖芯片测试座socket
QFP128pin-0.5mm-14x20mm塑胶旋钮翻盖芯片测试座socket 󰀡了解详情 在线咨询
LGA14pin-0.5mm-2.5*3mm-001-KNL芯片测试座socket—lga芯片测试夹具
LGA14pin-0.5mm-2.5*3mm-001-KNL芯片测试座socket—lga芯片测试夹具 󰀡了解详情 在线咨询
DFN8pin-0.5mm-1.98x2.98mm塑胶翻盖探针芯片老化座
DFN8pin-0.5mm-1.98x2.98mm塑胶翻盖探针芯片老化座 󰀡了解详情 在线咨询
BGA100pin-0.8mm-10X10mm合金旋钮翻盖芯片测试座socket
BGA100pin-0.8mm-10X10mm合金旋钮翻盖芯片测试座socket 󰀡了解详情 在线咨询
QFP128pin-0.8mm-32*32mm-VS01KNL芯片测试座sokcet
QFP128pin-0.8mm-32*32mm-VS01KNL芯片测试座sokcet 󰀡了解详情 在线咨询
SOP14pin-0.5mm-2X3.26mm-017-SGH芯片测试座socket
SOP14pin-0.5mm-2X3.26mm-017-SGH芯片测试座socket 󰀡了解详情 在线咨询
CQFP144pin-0.5mm-24*24mm0160-KNH芯片测试座
CQFP144pin-0.5mm-24*24mm0160-KNH芯片测试座 󰀡了解详情 在线咨询
射频模块32pin-0.9mm-13.5x19mm合金翻盖测试座—模块测试socket
射频模块32pin-0.9mm-13.5x19mm合金翻盖测试座—模块测试socket 󰀡了解详情 在线咨询
BGA574pin-0.8mm-20x20mm合金旋钮探针芯片测试座—bga芯片测试夹具
BGA574pin-0.8mm-20x20mm合金旋钮探针芯片测试座—bga芯片测试夹具 󰀡了解详情 在线咨询
QFN16pin-0.5mm-4x4mm合金翻盖探针芯片老化座
QFN16pin-0.5mm-4x4mm合金翻盖探针芯片老化座 󰀡了解详情 在线咨询
BGA121pin-0.5mm-6x6mm合金翻盖芯片测试座
BGA121pin-0.5mm-6x6mm合金翻盖芯片测试座 󰀡了解详情 在线咨询
QFN48pin-0.4mm-6x6mm合金翻盖探针芯片测试座
QFN48pin-0.4mm-6x6mm合金翻盖探针芯片测试座 󰀡了解详情 在线咨询
模块256pin-1.0mm-65x65mm合金旋钮翻盖测试座
模块256pin-1.0mm-65x65mm合金旋钮翻盖测试座 󰀡了解详情 在线咨询
LCC20pin-0.8mm-6.2x6.2mm合金翻盖探针芯片测试座
LCC20pin-0.8mm-6.2x6.2mm合金翻盖探针芯片测试座 󰀡了解详情 在线咨询
SOT89-3L-1.5mm合金翻盖探针器件测试座
SOT89-3L-1.5mm合金翻盖探针器件测试座 󰀡了解详情 在线咨询
LCC60pin-1.27mm-30X40mm合金翻盖模块测试座
LCC60pin-1.27mm-30X40mm合金翻盖模块测试座 󰀡了解详情 在线咨询

推荐资讯/Recommended News

鸿怡电子测试座的应用介绍

鸿怡电子测试座的应用介绍

鸿怡电子测试座的应用介绍

测试座就是一种具有测试功能的插座,是对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。下面 我们主要来讲解一下它的应用。 ic测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件... 【更多详情】

鸿怡产品中心Products

SSD固态硬盘测试方案

U盘Flash测试座

晶振测试座

DDR测试夹具

EMMC/EMCP数据恢复

精密定制IC测试座

老化测试座

烧录编程座

端子板(Adapter)

IC老化板解决方案

IC测试治具

FPC-connector夹子

芯片/老化开短路解决方案

BGA返修

ATE测试座(自动机台适用)

测试探针

大电流弹片微针模组

电阻容老化测试座

3C接口转接头

蝶形/金属管壳/陶瓷封装

IGBT和新能源封装测试座

半导体探针卡/垂直探针卡

联系鸿怡电子

咨询热线13632719880
  • 座机:0755-83587595
  • 邮箱:liu@hydz999.com
  • 传真:0755-23287415
  • 地址:深圳市宝安区西乡大道288号宝源华丰总部经济大厦A座1108室