您好,欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网
鸿怡测试座,终身技术支持保修
当前位置: 首页 » 鸿怡电子产品中心

明星产品/ Star product

HMILU-DFN8pin-0.65mm-3X3mm翻盖探针芯片测试座
HMILU-DFN8pin-0.65mm-3X3mm翻盖探针芯片测试座 󰀡了解详情 在线咨询
HMILU-DDR3-84pin-0.8mm-11.5×7.5mm合金翻盖测试座
HMILU-DDR3-84pin-0.8mm-11.5×7.5mm合金翻盖测试座 󰀡了解详情 在线咨询
HMILU-DFN14pin-0.65mm-4.5×3mm合金翻盖芯片老化测试座
HMILU-DFN14pin-0.65mm-4.5×3mm合金翻盖芯片老化测试座 󰀡了解详情 在线咨询
HMILU-DFN20pin-0.5mm-5.5×3.5mm合金翻盖芯片测试座
HMILU-DFN20pin-0.5mm-5.5×3.5mm合金翻盖芯片测试座 󰀡了解详情 在线咨询
HMILU-FPC11pin-0.6mm连接器微针模组测试座
HMILU-FPC11pin-0.6mm连接器微针模组测试座 󰀡了解详情 在线咨询
HMILU-WLCSP73pin-0.4mm-3.84x4.1mm合金翻盖射频芯片测试座
HMILU-WLCSP73pin-0.4mm-3.84x4.1mm合金翻盖射频芯片测试座 󰀡了解详情 在线咨询
HMILU-LCC44pin-1.27mm-16.56x16.56mm合金翻盖探针芯片测试座
HMILU-LCC44pin-1.27mm-16.56x16.56mm合金翻盖探针芯片测试座 󰀡了解详情 在线咨询
HMILU-CQFP64pin-1.0mm-18.4x18.4mm塑胶翻盖旋钮探针芯片老化座
HMILU-CQFP64pin-1.0mm-18.4x18.4mm塑胶翻盖旋钮探针芯片老化座 󰀡了解详情 在线咨询
HMILU-QFN24pin-0.4mm-4x3mm下压合金芯片烧录座
HMILU-QFN24pin-0.4mm-4x3mm下压合金芯片烧录座 󰀡了解详情 在线咨询
HMILU-BGA272(实际下针85PIN)-1.0mm合金翻盖探针芯片烧录座
HMILU-BGA272(实际下针85PIN)-1.0mm合金翻盖探针芯片烧录座 󰀡了解详情 在线咨询
HMILU-DFN8pin-2.0mm-8×8mm合金翻盖探针芯片测试座
HMILU-DFN8pin-2.0mm-8×8mm合金翻盖探针芯片测试座 󰀡了解详情 在线咨询
HMILU-DFN8pin-1.27mm-5×6mm合金翻盖探针芯片测试座socket
HMILU-DFN8pin-1.27mm-5×6mm合金翻盖探针芯片测试座socket 󰀡了解详情 在线咨询
HMILU-PLCSP25pin-0.48mm-2.5×3.0mm塑料翻盖弹片芯片测试座
HMILU-PLCSP25pin-0.48mm-2.5×3.0mm塑料翻盖弹片芯片测试座 󰀡了解详情 在线咨询
HMILU-TO247-3pin-5.44mm-15.7×41.015mm合金翻盖功率器件测试座
HMILU-TO247-3pin-5.44mm-15.7×41.015mm合金翻盖功率器件测试座 󰀡了解详情 在线咨询
HMILU-DFN48pin-0.5mm-7×7mm合金翻盖芯片测试座
HMILU-DFN48pin-0.5mm-7×7mm合金翻盖芯片测试座 󰀡了解详情 在线咨询
HMILU-QFN20pin-1.5mm-9×9mm塑胶翻盖芯片测试座
HMILU-QFN20pin-1.5mm-9×9mm塑胶翻盖芯片测试座 󰀡了解详情 在线咨询
HMILU-PGA72pin-1.27mm-40×32mm合金翻盖探针芯片测试座
HMILU-PGA72pin-1.27mm-40×32mm合金翻盖探针芯片测试座 󰀡了解详情 在线咨询
HMILU-LCC90pin-1.2mm-35.06x35mm合金翻盖芯片测试座
HMILU-LCC90pin-1.2mm-35.06x35mm合金翻盖芯片测试座 󰀡了解详情 在线咨询
模块2512-2pin-1.79mm-6.32x3.23mm一拖十六合金翻盖电容测试座
模块2512-2pin-1.79mm-6.32x3.23mm一拖十六合金翻盖电容测试座 󰀡了解详情 在线咨询
HMILU-QFN56pin-0.35mm-6x6mm合金翻盖探针芯片测试座
HMILU-QFN56pin-0.35mm-6x6mm合金翻盖探针芯片测试座 󰀡了解详情 在线咨询

推荐资讯/Recommended News

鸿怡电子测试座的应用介绍

鸿怡电子测试座的应用介绍

鸿怡电子测试座的应用介绍

测试座就是一种具有测试功能的插座,是对在线元器件的电性能及电气连接进行测试来检查生产制造缺陷及元器件不良的一种标准测试设备。下面 我们主要来讲解一下它的应用。 ic测试的主要目的是保证器件在恶劣的环境条件... 【更多详情】

鸿怡产品中心Products

SSD固态硬盘测试方案

U盘Flash测试座

晶振测试座

DDR测试夹具

EMMC/EMCP数据恢复

精密定制IC测试座

老化测试座

烧录编程座

端子板(Adapter)

IC老化板解决方案

IC测试治具

FPC-connector夹子

芯片/老化开短路解决方案

BGA返修

ATE测试座(自动机台适用)

测试探针

大电流弹片微针模组

电阻容老化测试座

3C接口转接头

蝶形/金属管壳/陶瓷封装

IGBT和新能源封装测试座

半导体探针卡/垂直探针卡

联系鸿怡电子

咨询热线13632719880
  • 座机:0755-83587595
  • 邮箱:liu@hydz999.com
  • 传真:0755-23287415
  • 地址:深圳市宝安区西乡大道288号宝源华丰总部经济大厦A座1108室