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定制
QFN96-0.35 10x10翻盖合金探针测试座
1、工作温度:-55℃~125℃@3000h;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:铝合金;
3、探针镀覆:3μ" Au over 50-100μ" Ni(鍍金3μ",鎳底50~100μ");
4、单PIN额定电压&电流:直流12V&1.0A;
...
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定制
SOT89-5-1.5合金翻盖开尔文测试座
开尔文测试夹具有什么优点?
与传统的两线测试夹具相比,开尔文测试夹具具有以下优点:
- 精准度高:可以消除测试夹具本身的电阻和电压,避免这些因素对测试结果的影响。
- 测量范围广:可以测量低电...
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定制
QFN24-0.35 3x3合金下压测试座烧录座治具夹具
测试座(夹具)特性
①结构:下压式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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定制
BGA1156-1.0 35x35合金旋钮翻盖探针测试座
BGA测试夹具是一种用于帮助检测集成电路芯片(BGA芯片)的性能和质量的工具。它可以将BGA芯片固定在测试板上,以确保芯片与测试器件之间的正确接触,从而进行可靠的功能和性能测试。由于BGA芯片和测试器件之间的连接...
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定制
邮票孔模块36+5PIN-2.0(30x35mm)合金翻盖测试座
PCB模块测试架是一种用于测试电子产品的工具,它可以为PCB电路板上的各个模块提供稳定的电源和信号输入,并能够采集输出信号进行分析。通过使用测试架,可以在保证电路板正常工作的情况下,对其各个模块进行测试和调...
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定制
模块160-1.0 45x45合金旋钮翻盖测试座
①适配封装:160脚邮票孔核心模块,pitch1.0mm,尺寸45*45mm,厚度1.46mm。 ②电气性能:频率100Mhz,电压小于5V,电流小于1A。 ③使用环境温度:常温。 ④应用场景:烧录。
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SOP24-1.0 12.1x15塑胶翻盖探针测试座
SSOP24老化测试座性能要求:
SSOP封装,24PIN,间距1.0,本体宽8.5,含引脚宽12.1,厚度4.15
频率200MHZ以内,温度常温,电流100毫安;
特点:
①我司独有设计生产的老化探针,成本低,老化电气...
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DFN12-0.4 2.5x4晶振塑胶翻盖测试座
产品简介:适用与各种芯片-45℃~125℃长时间高低温老化测试。
特点:
①我司独有设计生产的老化探针,成本低,老化电气性能温度,寿命高;
②采用CNC加工方式,提供芯片的规格图纸即可设计;
③...
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定制
BGA169-0.8 11x11翻盖合金测试治具
性能参数:
工作频率:1.2GHZ;
工作温度:-55℃~175℃;
单PIN电流:1A;
功率:5W;
接触阻抗:≤100mΩ
射频信号:无
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DFN8-1.27 4.9x6合金翻盖测试座
适配IC尺寸4.9*6mm,间距1.27,单pin电流5A
没有其他的测试要求,做成开尔文测试方式
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陶瓷封装4pin-0.85 6x1.8翻盖合金测试座(需加铜块)
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
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定制
BGA25-1.27(7.45x7.45mm)翻盖探针测试座
1、工作温度:-55℃~155℃;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:铝合金;
3、探针材质:镀镍金pogoPIN;
4、单PIN额定电压&电流:直流12V&1.0A;
5、耐压:AC700V@1min;
6、接触电阻:≤1...
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定制
QFN21-0.5 3.8x3.4翻盖合金测试座
QFN21非标合金探针老化座特性:
1、工作温度:-55℃~155℃;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:铝合金;
3、探针材质:镀镍金pogoPIN;
4、单PIN额定电压&电流:直流12V&1.0A;
5、耐压:...
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定制
BGA636芯片测试座socket夹具治具工装探针socket维修检测工具
定制
BGA636芯片测试座socket夹具治具工装探针socket维修检测工具
产品简介:适用与各种芯片-45℃~125℃长时间高低温老化测试。
特点:
①我司独有设计生产的老化探针,成本...
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定制
BGA809测试座测试socket夹具治具CPU高速探针散热测试
定制
BGA809测试座测试socket夹具治具CPU高速探针散热测试
性能参数:
工作频率:2.6GHZ;
工作温度:-55℃~175℃;
单PIN电流:1A;
功率:5W;
接触阻抗:...
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定制
SOP16烧录座烧录夹具烧录socket测试座读写编程装换座
SOP16烧录座烧录夹具烧录socket测试座读写编程装换座
1、工作温度:-55℃~155℃;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:铝合金;
3、探针材质:镀镍金pogoPIN;
4、单PIN额定电压&电流:直流12V&1...
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定制
SOP28-1.27(18.09x7.5mm)合金旋钮探针测试座老化座
定制
SOP28-1.27(18.09x7.5mm)合金旋钮探针测试座
1、工作温度:-40℃~125℃@3000h;
2、针板材质:PAI;外壳材质:铝合金;
3、探针镀覆:3μ" Au over 50-100μ" Ni;
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定制
翻盖旋钮 FBGA689封装 测试座 测试夹具 测试socket 老化座 老炼夹具
BGA689测试座测试socket测试夹具
BGA689封装,1.0间距,尺寸31*31mm
老化温度:-45~135℃ @1000小时
电压无要求
电流1A以内
频率300MHZ以内
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定制
翻盖旋钮 BGA676封装 测试座 老化座 老炼夹具 测试socket
BGA676封装测试座老化座老炼夹具测试socket
BGA676封装,1.0间距,27*27尺寸
测试信号频率100MHZ
功率8W
电流8A
温度常温
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定制
DFN12感光传感器测试夹具测试座烧录治具socket
定制
DFN12测试夹具 感光传感器芯片,闪光芯片测试 DFN12封装,2.3*2.5尺寸,间距0.5 电流毫安级 温度常温 频率300Mhz以内
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