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[行业资讯]简述IC测试的分类2018年08月09日 14:57: IC测试一般分为物理性外观测试（Visual Inspecting Test），IC 功能测试（Functional Test）, 化学腐蚀开盖测试（De-Capsulation），可焊性测试（Solderbility Test），直流参数（电性能）测试（Electrical Test）, 不损伤内部连线测试（X-Ray），放射线物质环保标准测试（Rohs）以及失效分析（FA）验证测试。; 阅读（233）标签：

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