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定制模块60PIN-1.27 30.7x40x2.75翻盖合金测试座
邮票孔模块测试座(夹具)特性
①结构:翻盖顶窗式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、...
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0603贴片电容
老化
座夹具-2023新款
0603贴片电容
老化
夹具-4工位
0603贴片电容高温
老化
夹具
0603贴片电容高温
老化
座
0603贴片电容测试座
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OTS-16-1.27-04下压
老化
座 本体4.4mm宽
新品SOP16封装4.4mm本体宽
老化
夹具
OTS-16-1.27-04下压
老化
座
适配IC:≤16PIN,1.27间距,本体宽4.4mm
材质:PEI
镀金弹片针
耐温:-...
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定制QFN56-0.4(7x7)下压合金顶窗探针测试座自动化烧录夹具
QFN56下压探针烧录夹具特点:
①下压(按压式结构),适配于自动化设备气缸、机械手使用,大大提高烧录测试效率。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座...
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定制CLCC24-1.27合金翻盖顶窗测试座夹具
老化
座
CLCC24测试座特性
①结构:顶窗翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力...
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定制BGA256-1.0翻盖旋钮探针测试座夹具socket
BGA256-1.0翻盖旋钮探针测试座性能参数
1、工作温度:-55℃~125℃;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:铝合金;
3、探针镀覆:3μ" Au over 50-100μ" Ni;
4、单PIN额定电压&电流:直流12V&1....
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定制SOP36-0.65电源芯片翻盖旋钮测试架治具夹具socket工装
SOP36测试架特点:
采用金属铜块导热;
采用翻盖式旋钮结构,压力均匀,不移位下压平稳接触稳定;
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
高精度的定位槽,保IC定位精确;
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定制LQFP100-0.5翻盖旋钮探针测试治具夹具测试架socket
QFP100芯片测试架简介:
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试QFP100封装的微控制器芯片。
测试架类型:翻盖旋钮式
接触方式:双头测试探针
工作频率:600Mhz
特点:①按芯...
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定制QFN22翻盖探针测试座
老化
老炼夹具治具
老化
测试socket
定制QFN22翻盖探针测试座产品简介
芯片pin脚分为两边,整块大pin为D脚,另一边是S脚属于电源部分,一进一出需要2100V/500mA;
其他引脚使用普通pin即可;
芯片的开关频率是200KHZ,需要
老化
座测试座烧录夹具治具socket焊接式
7050-4晶振
老化
座特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:PEI;
③接触方式及材质:单头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:PEI;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:...
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定制WLCSP12晶圆级封装IC测试座烧录座夹具socket老炼
老化
夹具
定制WLCSP12烧录座夹具治具特点:
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、...
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定制WLCSP25ball晶圆级封装芯片测试座测试夹具socket烧录座治具
定制WLCSP25烧录座夹具治具特点:
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、...
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定制PDFN6x8 / QFN33-0.65开模翻开塑胶探针高温
老化
座
老化
夹具老炼座治具socket
产品简介:PDFN6x8(QFN33-0.65封装)新封装芯片150℃高温
老化
座
特点:采用开模注塑外壳,核心部分通过CNC加工的方式定制各种非标
老化
测试座。
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定制LQFP80翻盖旋钮探针烧录座 测试socket
老化
夹具
产品简介:LQFP80标准封装烧录夹具
特点:采用合金探针设计,探针可单独更换,单次寿命长达10W+
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定制 PCB模块金手指/焊盘/测试点 测试座 socket 夹具 治具
产品简介:PCB模块金手指焊盘测试点测试座
适配规格:17个pin点,外形尺寸29*29mm ,间距1.54mm
性能要求:导通即可,无特殊高速信号要求
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定制WLCSP21烧录读写夹具测试编程座socket烧录座
WLCSP21烧录夹具特性:
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力...
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LGA24翻盖探针老炼夹具
老化
座测试座socket烧录编程
LGA24塑胶探针
老化
座
1、工作温度:-40℃~125℃;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:PEI、PPS;
3、探针镀覆:3μ" Au over 50-100μ" Ni;
4、单PIN额定电压&电流:...
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BGA77封装器件 测试座
老化
座 老炼夹具 治具 socket DC电源管理IC
产品简介:BGA77封装器件
老化
座老炼夹具
BGA77
老化
座参数
1、工作温度:-40℃~125℃;
2、针板材质:Torlon;外壳材质:PEI;
3、探针镀覆:...
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BGA/EMMC153/169合金下压探针测试座读写座测试socket
产品简介:标准的EMMC封装芯片30PIN引出
①结构:下压式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:...
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