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805型金手指100P插座PCB插槽总线槽100芯3.175间距野口插座焊板式
型号: IDC 100PIN 3.175
品牌: HMILU
产地: 中国大陆
颜色分类: 44PIN3.175间距,56PIN3.175间距,72PIN2.54间距,100PIN2.54间距,100PIN3.175间距
电路板类型: 1.6mm
适用场景: PCB总线转...
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BGA153测试治具EMMC测试架BGA153测试座
老化
座手机字库测试架BGA顶窗下压测试座
类型:合金顶窗按压式
封装:BGA153
IC尺寸:11.5*13mm
间距:0.5mm
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嵌入式芯片测试夹具BGA484测试治具BGA484-0.8测试座BGA484测试架
型号: BGA484-0.8-18*18
品牌: HMILU
产地: 中国大陆
适用场景: 测试,烧录,编程,
老化
封装方式: BGA
引脚间距: 0.8mm
总尺寸 (含引脚): 18x18x1mm
...
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IC检测治具pogo PIN测试座 集成模块测试架 模块烧录夹具 测试座
品牌: HMILU
产地: 中国大陆
颜色分类: 来图定制
适用场景: 测试,烧录,
老化
封装方式: 邮票孔
引脚间距: 1.27mm
总尺寸 (含引脚): 25x20x1mm
主体尺...
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定制烧录测试座 QFN28测试夹具 QFN28
老化
测试座 QFN28烧录座0.4
型号: QFN28-0.4
品牌: HMILU
产地: 中国大陆
颜色分类: 来图定制
适用场景: 烧录,编程,
老化
,测试
封装方式: QFN
引脚间距: 0.4mm
总尺寸 (含引脚)...
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LFBGA144测试夹具LFBGA-144测试治具BGA144测试座LFBGA-144测试座
型号: BGA144-0.8-10*10
品牌: HMILU
产地: 中国大陆
颜色分类: 来图定制
适用场景: 测试,烧录,
老化
封装方式: BGA
引脚间距: 0.8mm
总尺寸 (含引脚...
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TO封装元器件测试座 TO46-5PIN
老化
座耐高温 TO46-5PIN热电堆传感器
老化
座
产品名称:TO 系列
老化
座
型号:TO46-5-2.54
材质类别:
塑胶主体:进口 LCP/PPS 阻燃级耐高温。
接触端子:进口铍铜,触点镀金。
高温性能:
1、120℃≤实...
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TO封装元器件测试座 TO56
老化
座耐高温 TO56光电堆传感器
老化
座
产品名称:TO 系列
老化
座
型号:TO56-5-2.2
材质类别:
塑胶主体:进口 LCP/PPS 阻燃级耐高温。
接触端子:进口铍铜,触点镀金。
高温性能:
1、120℃≤实验...
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TO封装元器件测试座 TO46
老化
座耐高温 TO46热电堆传感器
老化
座
产品名称:TO 系列
老化
座
型号:TO46-4-2.0
材质类别:
塑胶主体:进口 LCP/PPS 阻燃级耐高温。
接触端子:进口铍铜,触点镀金。
高温性能:
1、120℃≤实验...
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USB Type-C 24PIN 用于母头测试
1. USB公头使用优质工程塑料制成,可降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为USB公头设计,易于插入,以避免与产品碰撞。
3.信号PIN由铍铜材料制成,具有良好的导电性,低延迟和出色的弹性,其接触电...
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IEEE1394 4PIN 用于母头测试
1. USB公头使用优质不锈钢制成,这样可以降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为USB公头设计,易于插入,以避免与产品碰撞。
3.信号PIN由铍铜材料制成,具有良好的导电性,低延迟和出色的弹性,...
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Micro-USB 5 PIN 用于母头测试
1. USB公头使用优质不锈钢制成,这样可以降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为USB公头设计,易于插入,以避免与产品碰撞。
3.信号PIN由铍铜材料制成,具有良好的导电性,低延迟和出色的弹性,...
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Micro-USB 5PIN 用于母头测试
1. USB公头使用优质不锈钢制成,这样可以降低磨损并延长使用寿命。
2.结构导向倒角专为USB公头设计,易于插入,以避免与产品碰撞。
3.信号PIN由铍铜材料制成,具有良好的导电性,低延迟和出色的弹性,其接...
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老化
测试座1206/1210贴片电容翻盖式
老化
座多工位高低温夹具插座
测试座型号:1210贴片电容测试座
适配电容尺寸:3.2mm*2.5mm
封装型号:1210
高低温范围:-55℃——+150℃
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QFN测试烧录座 QFN自动设备用ATE测试座 烧录座芯片转换座
测试座(夹具)特点:
①ATE自动化测试结构,适用于机械手放取芯片测试。
②测试座使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短,从而使测试 更稳定,频率更高。
③测试...
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0402贴片电容翻盖式
老化
座多工位高低温夹具镀金插座
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0603贴片电容翻盖式
老化
座多工位高低温
老化
测试座镀金插座
测试座型号:0603贴片电容测试座
适配电容尺寸:1.6mm*0.8mm
封装型号:0603
高低温范围:-55℃——+150℃
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定制BGA256-0.8芯片
老化
座 测试座
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BGA152/132翻盖探针
老化
座
一、产品用途:BGA152/132探针测试座,对BGA152/BGA132的芯片进行测试
二、适用封装:BGA152/BGA132 引脚间距1.0mm
三、BGA152/132翻盖探针
老化
座:BGA152-1.0
四、有球无球兼...
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定制SOP88-1.27双扣旋钮测试座 芯片
老化
座 测试治具
专业定制各类IC测试座、测试治具、
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座
一件起订,价格优惠
SOP封装,88pin 1.27间距
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