- [鸿怡动态]鸿怡电子LGA测试座特点及性能参数2016年07月19日 11:43
- LGA测试座特点及性能参数： 封装兼容设计，只要换座头，可兼容测试TSOP封装和LGA封装的FLASH的测试、量产。 大小兼容设计，只要换限位框，即可测试外形尺寸不同的LGAFLASH; 主控板兼容设计，只要更换主控板的主控IC，可实现芯邦。 采用一拖四架构设计，省去外置HUB，每台电脑可同时量产16PCSFlash芯片，效率倍增; LGA测试座测试寿命可达20万次以上，是同类寿命的10倍以上;并且探针可更换，维修方便，成本低; 采用手动翻盖式结构，操作方便; 上盖的压板采用
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- [常见问题]鸿怡电子SSD固态硬盘测试座主要有哪些功能？2016年07月19日 11:42
- SSD固态硬盘测试座顾名思义就是用来测试固态硬盘的，那么这种测试座主要有哪些功能呢？ 现在SSD固态硬盘与U盘3.0市场BGA132/152的芯片使用量越来越大，固态硬盘的容量与速度越来越大，现在8CE的FLASH也在各大厂家使用越来越多 了，我公司为了方便各大测试厂测试生产的便利，开发了一款多功能SSD固态硬盘测试座，可以兼容BGA152/132/88/100，TSOP48等多种芯片测试。 功能一：SSD固态硬盘测试座可以测试同时插拔翻盖弹片转DIP48的BGA132/1
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