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[鸿怡动态]QFN8-0.65-3X3烧录座_QFN8/DFN8-8L-0.65(3×3)转DIP老化烧录测试座
2021年09月07日 16:48
工厂介绍 鸿怡电子生产QFN8-0.65-3X3烧录座_QFN8DFN8-8L-0.65(3 3)转DIP老化烧录测试座,同时还生产其他IC测试夹具治具。
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[鸿怡动态]QFN28-0.5间距(4×4)芯片测试座_翻盖编程座_烧写座_翻盖探针老化座
2021年09月07日 16:29
工厂介绍 鸿怡电子生产QFN28 0.5间距(4×4)芯片测试座_翻盖编程座_烧写座_翻盖探针老化座,同时还生产其他IC测试夹具治具。
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[鸿怡动态]新品QFN40-0.4芯片测试座_翻盖IC老化座_编程座_IC549-0404
2021年09月07日 15:30
工厂介绍 鸿怡电子生产新品QFN40-0.4芯片测试座_翻盖IC老化座_编程座_IC549-0404,同时还生产其他IC测试夹具治具。
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[鸿怡动态]QFN48-0.5芯片烧录座_IC测试座_编程座_翻盖弹片QFN48测试座
2021年09月07日 15:17
工厂介绍 鸿怡电子生产QFN48-0.5芯片烧录座_IC测试座_编程座_翻盖弹片QFN48测试座,同时还生产其他IC测试夹具治具。
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[鸿怡动态]应用于SIM卡密钥芯片的老化测试解决方案
2019年07月04日 17:20
随着市面上电子产品的更新换代,小型封装的芯片越来越受欢迎。其中,尤数QFN系列的封装最为广泛。电源管理芯片同,SIM卡密钥芯片、MEMS传感器等等产品都可见到它的身影。时,对于小型封装芯片的老化、以及性能测试,也是芯片设计公司以及封测厂的重中之重。 针对QFN8系列芯片的老化,测试,鸿怡电子研发设计出一系列完整的解决方案,老板板加上测试socket的方式。很好的帮客户解决以上问题。
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