您好,欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网
新浪微博
|
微信关注
|
收藏本站
|
在线留言
|
网站地图
“鸿”业之愿于精密检测
“怡”心一意只为IC服务
全国服务热线:
13632719880
首页
大电流微针模组
DDR测试夹具
定制IC测试座
BGA测试座
QFN测试座
QFP测试座
自动测试座
SENSOR测试座
TSOP/SOP测试座
其它IC测试座
电源IC测试座
触摸IC测试座
产品
案例
资讯
品牌
采购
联系
人才招聘
热门关键词:
测试座
老化座
烧录座
测试座厂家
当前位置:
首页
»
全站搜索
» 搜索:qfn系列
定制QFN16合金探针测试座 高功耗散热+铜散热测试夹具socket
简介:定制QFN16封装测试socket,采用芯片顶部和底部采用铜块传热导热测试设计, 适配IC规格:QFN封装,16PIN,间距0.5mm,尺寸3*3*0.75 特点:黄铜散热导热设计,个性化定制,座子底部避空1.5mm可以放电子元器件。...
更多 +
QFN18封装CS5755SDQ半桥IPM功率模块老化座夹具测试座socket
1、产品简介:对QFN7x7-18L封装的的IPM功率IC进行老化测试。
2、适配IC封装规格:QFN18pin,最小pitch0.65mm,尺寸7x7x0.75。
3、性能要求:-55℃~155℃持续老化测试。
4、老化测试座技术指标:
...
更多 +
定制 QFN100 烧录座 测试座 测试夹具 老化座 测试socket 0.4pitch
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖旋钮式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压...
更多 +
定制 QFN64 射频芯片 测试座 加接地铜块散热 测试夹具 老化座 socket
性能参数:
工作频率:8GHZ@1DB;
工作温度:-55℃~155℃;
单PIN电流:1A;
功率:3W;
接触阻抗:≤100mΩ
更多 +
定制 QFN40 MCU 测试架 测试治具 测试夹具 测试工装 socket 探针
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试MCU芯片QFN40封装的IC是否正常。
特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,...
更多 +
定制QFN64翻盖探针测试治具测试架测试座socket
产品简介:
设计方式:利用客户测试主板上面原有的孔位设计限位及固定、空间占比低,更换简单易维修。
性能参数:频率2.5Gbps
提供三个月免费保修(人为损坏除外)。
保修期外,免费维修,如果...
更多 +
QFN16转DIP16烧录座读写编程座夹具老化测试socket 3*3
材料&特性:
socket本体:PEI\LCP
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5KG min ,PIN越多压力越大
绝缘阻抗:1,000MΩ500VDC
最大电流:2A
使用温度:-55℃~155℃@3000小...
更多 +
定制LGA28老化夹具测试座socket MUC芯片测试
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
更多 +
定制 QFN20 合金翻盖探针 测试座 测试夹具 治具 socket MCU测试
测试座(夹具)特点:
①测试座设计成翻盖结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③测试座使用进口双头探针接触方式...
更多 +
QFN32-0.5(5×5)下压探针老化座(下信号PIN13针+接地针4根,共17根)
测试座(夹具)特性
①结构:按压式(下压);
②外壳材质:PEI;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:PEI;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
更多 +
定制QFN14合金翻盖探针测试座夹具读写烧录编程座
测试座(夹具)特性
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越...
更多 +
定制非标QFN16封装电源芯片测试座老化座夹具
定制塑胶探针测试座特点:
采用开模塑胶外壳,一体成型,成本低、交期短;
采用双头测试探针,探针可更换,PCB可循环利用,综合成本低;
非标IC,根据客户需求针对性设计,设计灵活;
电源芯片,...
更多 +
定制非标QFN16-0.4(3×2)翻盖塑胶探针高低温老化测试座
定制塑胶探针测试座特点:
①采用开模塑胶外壳,一体成型,成本低、交期短;
②采用双头测试探针,探针可更换,PCB可循环利用,综合成本低;
③非标IC,根据客户需求针对性设计,设计灵活;
④老...
更多 +
定制DFN10烧录座老化夹具0.4mm间距测试座尺寸1.1×1.5mm
产品特点及性能参数:
采用翻盖式旋钮结构,下压平稳接触稳定;?
上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,压力均匀,不移位;?
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;?
高精度的定位...
更多 +
定制QFN73-0.5-7×7×0.85翻盖探针测试座老化座烧录座夹具
产品特点及性能参数:
采用翻盖式旋钮结构,下压平稳接触稳定;?
高精度的定位槽,保IC定位精确;?
探针可更换,维修方便,成本低;?
KEEP工程绝缘材料制作;?
最小可做到跳距pitch=0.35mm...
更多 +
定制QFN16-0.5双扣旋钮手自一体式探针测试座夹具ATE socket
产品特点:采用双扣旋钮式结构,适用于人工手动操作以及自动化设备测试烧录。
接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
核心部件材质:peek陶瓷;
额定电流:1A;
操作压力:30g、PIN越多压力越大...
更多 +
定制QFN10pin一拖四翻盖式探针老化座夹具测试座socket(3.2×2.5)
测试座(夹具)特性
①结构:1拖4多工位翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN...
更多 +
定制QFN64-0.5(9.5×8)翻盖塑胶探针老化座
产品简介 适配芯片尺寸:QFN64封装,间距0.5mm
老化座用途:对QFN64的芯片进行老化、测试、烧录
①结构:翻盖式;
②外壳材质:塑胶;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件...
更多 +
定制DFN4-1.1_1.7×2.1翻盖塑胶探针测试座
更多 +
定制QFN88-0.4(10×10)翻盖合金探针测试座
更多 +
首页
上一页
<...
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
...>
下一页
尾页
相关搜索
QFN系列
热点聚焦
鸿怡电子测试座的应用介绍
测试座就是一种具有测试...
探讨关于BGA测试座所具有的特点及价...
BGA测试座具有哪些特点?...
1
电子产品寿命短?HAST老化试验做了吗?
2
寻找志同道合的工作伙伴!
13632719880
在线客服