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: 定制LGA9-0.3875一拖六翻盖探针老化座

产品名称：LGA9一拖六探针老化座
尺寸：1.5*1.5mm
间距：0.35mm
应用：QFN/LGA芯片的老化测试烧录
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: 定制模块60pin-1.27_30.7×40×2.75合金翻盖测试座

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: 定制BGA841-0.8_24×24合金旋钮翻盖测试座

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: 定制DDR5-170pin-0.6测试治具

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: 定制QFN11-1.2 6.7×7.5探针合金翻盖测试座

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: 定制BGA100-0.5(7×7)翻盖探针测试座

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: BGA132的翻盖的温控测试座

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: 定制QFN24-0.5（4×4）翻盖探针测试座

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: 定制QFN48pin-0.35 5×5上下翻盖探针测试座

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: BGA132-1.0-004TNH(12X18）单面弹老化座

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: 定制B85电脑主板BGA708pin-0.65测试治具

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: 定制NB80pin-1.0-23×24模块下压探针测试座

测试座结构：下压式
封装：QFN封装，80pin 间距0.4mm
应用：可适用用自动设备的测试、烧录使用
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