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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 测试探针HY-G1353-T

产品名称：HY-G1353-T
所属分类：测试探针
产品简介：HY-G1353-T-T探针、1.36mm测试针、总长36.5mm、弹簧针、测试针、顶针、探针
产品介绍（产品概述）：
针管：磷铜管镀金
弹簧：琴钢线更多 +

: HY030-UJ-5.7L 双头探针

产品型号：HY030-UJ-5.7L
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.30mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为爪头、圆头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：...
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: HY030-UU-5.7L 双头探针

产品型号：HY030-UU-5.7L
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.30mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型均为爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：IC t...
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: HY030-BU-5.7L 双头探针

产品型号：HY030-BU-5.7L
所属分类：双头探针
产品头型：探针外径为0.30mm，总长度为5.7mm、针的两端的头型为尖头、爪头
产品优势：产品采样稳定、产品过载稳定、产品测试误判率低
主要应用于：...
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: 高频探针001

产品名称：高频探针001
所属分类：高频探针
产品简介：高频针高频探针、高频测试针信号测试针 5针高频针测试探针
产品介绍（技术参数）：
针杆：黄铜镍上镀金
针管：黄铜镍上镀金
...
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: LCD FPC connector弹片微针模组测试座

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: 定制SOP88-1.27双扣旋钮测试座芯片老化座测试治具

专业定制各类IC测试座、测试治具、老化座
一件起订，价格优惠
SOP封装，88pin 1.27间距
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: 定制BGA63一拖二测试治具

在客供的PCB主板装上一拖二式测试座
更多 +

: 定制摄像头芯片BGA80合金翻盖探针测试座

型号: BGA80-1.0合金翻盖探针测试座
适用场景: 测试烧录编程老化
封装方式: BGA
引脚间距: 1mm
引脚数: 80个
测试座类型: 翻盖式
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: QFN32-0.5芯片测试翻盖弹片老化座

材料&特性：
socket本体：PEI
弹片材料：铍铜
弹片镀层：镍金
操作压力：0.5KG min ，PIN越多压力越大
绝缘阻抗：1,000MΩ，500VDC
最大电流：2A
使用温度：-55℃~175℃@3000小时...
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: 定制CLCC44-1.27测试座合金翻盖探针老化座编程座 ic座

适用封装芯片为：CLCC44pin 间距为1.27mm 尺寸：16.5*16.5m
根据客户需求，上盖和底盖均需要做避空处理
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: 定制三星UFS2.1芯片测试治具三星手机测试架

可根据客户需求定制各类UFS测试治具.
在客户现有的手机主板或是其它PCBA板上，直接将socket精准的固定在产品之上
无需layout,大大降低测试成本，广泛适用于ODM/半导体FAE部门的IC验证。
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: 全志开发板EMMC测试治具

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: 定制BCM-bga516芯片测试治具

厂家直销，定制BCM-bga516芯片测试治具
无需重新lay板，直接在客供的PCB板上装上治具
脚位精准，测试稳定
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: 供应BGA双头探针高频探针

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: 厂家定制CQFP208芯片测试座定制QFP老化座

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: 新开模晶振3225探针测试座贴片晶振老化座3225晶振老化座

产品均有尺寸图纸，如有需要请联系客服提供！
3225-4pin晶振探针老化座 3.2×2.5mm crystal socket测试座
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: BGA254翻盖弹片转SD测试座手机资料读写 EMCP254编程座

产品均有尺寸图纸，如有需要请联系客服提供！
BGA/eMCP254翻盖弹片转SD接口测试座
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: 工厂定制LPDDR4X测试座合金翻盖探针座 IC测试座 ICsocket编程座

更多 +

: 手机芯片UFS2.0 2.1测试座合金探针老化座翻盖式插座 UFS编程座

可根据客户需求定制各类UFS测试治具。
在客户现有的手机主板或是其它PCBA板上，直接将socket精准的固定在产品之上，无需layout,大大降低测试成本，广泛适用于ODM/半导体FAE部门的IC验证。
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