适用于BGA25pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,支持芯片可靠性测试、芯片功能性测试、芯片高性能测试
BGA25pin芯片测试座产品简介:
芯片测试频率:1Ghz
芯片测试电流:1A
芯片测试温度:-45°~+135°
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:PEI
适用于BGA25pin芯片测试环境:老化、测试、烧录,支持芯片可靠性测试、芯片功能性测试、芯片高性能测试
BGA25pin芯片测试座产品简介:
芯片测试频率:1Ghz
芯片测试电流:1A
芯片测试温度:-45°~+135°
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:PEI