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定制QFN20pin-1.74mm-8X10mm塑胶翻盖老化测试座socket

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产品简介

QFN20pin芯片老化测试座规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：1.74mm
适配芯片尺寸：8*10mm
接触介质：探针
老化座结构：翻盖式
老炼夹具材料：PEI

产品详情

鸿怡电子生产定制的QFN20pin-1.74mm-8X10mm塑胶翻盖老化测试座socket,简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家

适用于QFN20pin芯片模拟电路测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片功能性测试、芯片高性能测试

QFN20pin芯片老炼测试夹具产品简介：

芯片测试电流：满足单pin过流1.3A

芯片测试频率：2.5Ghz

芯片测试温度：-45°~+135°

我厂支持非标来图一件定制，提供完善的整套IC测试解决方案，并可提供类似案例参考，详询请联系客服

IC老炼座

QFN芯片老炼测试夹具

QFN芯片老化座

IC老炼测试夹具



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