鸿怡电子生产定制的LGA8pin-1.0mm-4X4mm一拖四工位翻盖探针老化测试座夹具,简介,性能,特点,规格,应用,生产厂家
适用LGA8pin芯片模拟电路测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试、芯片功能性测试
LGA8pin芯片老炼测试夹具产品简介：
芯片测试电流：500mA
芯片测试频率：150Mhz
芯片老化测试温度：-45°~+135°，单次时长：96小时，总时长5000小时
我厂支持非标来图一件定制，提供完善的整套IC测试解决方案，并可提供类似案例参考，详询请联系客服
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