适用DFN8pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片高性能测试、芯片可靠性测试、芯片功能性测试
DFN8pin芯片测试socket产品简介：
芯片测试频率：单pin满足2Ghz
芯片测试电流： 过流1A
芯片测试阻抗：100mΩ
芯片测试温度：-55°~+155°
芯片测试座结构：翻盖式
芯片测试夹具材料：合金
“鸿”业之愿于精密检测“怡”心一意只为IC服务
首页 精密定制IC测试座
HMILU-DFN8pin-0.55mm-8x8mm合金翻盖探针芯片测试座
产品简介
DFN8pin芯片测试夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.55mm
适配芯片尺寸：8*8mm
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.55mm
适配芯片尺寸：8*8mm
产品详情
鸿怡电子生产定制的DFN8pin-0.55mm-8x8mm合金翻盖探针芯片测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家
适用DFN8pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片高性能测试、芯片可靠性测试、芯片功能性测试
DFN8pin芯片测试socket产品简介：
芯片测试频率：单pin满足2Ghz
芯片测试电流： 过流1A
芯片测试阻抗：100mΩ
芯片测试温度：-55°~+155°
芯片测试座结构：翻盖式
适用DFN8pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片高性能测试、芯片可靠性测试、芯片功能性测试
DFN8pin芯片测试socket产品简介：
芯片测试频率：单pin满足2Ghz
芯片测试电流： 过流1A
芯片测试阻抗：100mΩ
芯片测试温度：-55°~+155°
芯片测试座结构：翻盖式
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