鸿怡电子生产定制的QFN24pin-0.35mm-3.0x3.0mm合金翻盖探针芯片测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家
适用于QFN24pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片高性能测试、芯片可靠性测试、芯片功能行测试
QFN24pin芯片测试夹具产品简介：
芯片工作速率：不小于200Mhz
芯片测试温度：-45°~+135°
芯片测试座寿命：不小于2万小时（120°工作条件下）
芯片测试电流：800mA
芯片测试座结构：翻盖式
芯片测试夹具材料：合金
“鸿”业之愿于精密检测“怡”心一意只为IC服务
首页 精密定制IC测试座
HMILU-QFN24pin-0.35mm-3.0x3.0mm合金翻盖探针芯片测试座
产品简介
QFN24pin芯片测试座socket规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子-HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.35mm
适配芯片尺寸：3*3mm
生产品牌厂家：鸿怡电子-HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.35mm
适配芯片尺寸：3*3mm
产品详情
我要下单
-
姓名
-
手机
-
留言
关于“产品,QFN系列,定制测试座,定制测试治具,定制IC测试架,QFN老化座,QFN烧录座”的相关产品
HMILU定制QFN64pin-0.5mm-9x9mm合金翻盖芯片测试座
HMILU定制功率探测器82pin-1.0mm-45x48mm合金翻盖式器件测试座
HMILU-DFN8pin-0.55mm-8x8mm合金翻盖探针芯片测试座
HMILU-模块44PIN-0.55mm-10.1x22.45mm合金旋钮翻盖测试座
HMILU-BGA225pin-1.27mm-20x20mm合金旋钮翻盖式芯片测试座
HMILU-DFN20pin-0.55mm-6.9x2.6mm合金翻盖式芯片测试座
HMILU-QFN64pin-0.5mm-9x9mm合金翻盖芯片测试座
HMILU-QFN28pin-0.5mm-4X4mm合金翻盖探针芯片测试座
HMILU-射频模块77pin-1.5mm-45x50mm合金翻盖测试座socket
HMILU-BGA48pin-0.75mm-014mm-9x11mm塑胶翻盖芯片测试座