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: HMILU-3225-8Pin-0.825mm塑胶翻盖晶振老化测试座

3225-8pin晶振老炼夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
晶振型号：3225
引脚：8pin
引脚间距：0.825mm
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: HMILU定制晶振2016-4L塑胶翻盖测试座

晶振2016-4L测试socket规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
封装类型：晶振2016
引脚：4pin
晶振尺寸：2.0*1.6mm
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: SOT89-3L-1.5mm合金翻盖探针器件测试座

SOT89系列-3L器件测试夹具规格参数：
生产厂家品牌：鸿怡电子—HMILU
器件封装形式：SOT89
器件引脚：3pin
器件引脚间距：1.5mm
期间含引脚尺寸：4*4.5mm
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: 5032-10pin塑胶翻盖晶振测试座socket

5032-10pin晶振测试座规格参数：
生产品牌：HMILU
晶振型号：5032
晶振引脚：10pin
晶振引脚间距：1.0mm
适配尺寸：5.0*3.2mm
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: QFN32pin-0.5mm-5×5mm翻盖式晶振测试座

QFN32pin晶振测试座规格参数：
品牌：HMILU
封装形式：QFN
引脚：32pin
引脚间距：0.5mm
适配尺寸：5*5mm
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: 晶振4pin-2.24mm-3.2x2.5mm一拖十六翻盖测试座

3225晶振4pin一拖十六工位测试座规格参数：
品牌：HMILU
引脚：4pin
引脚间距：2.24mm
适配尺寸：3.2*2.5mm
一拖十六工位（开天窗）
天窗尺寸：1.5*1.5mm
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: DFN4pin-0.85mm-6.9x1.4mm翻盖晶振老化座

DFN4pin晶振老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
封装形式：DFN
引脚数：4pin
引脚间距：0.85mm
适配尺寸：6.9*1.4mm
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: 定制WLCSP36pin-0.4mm-2.487x2.541mm塑胶翻盖晶振测试座

WLCSP36pin晶振测试座规格参数：
晶振封装形式：WLCSP
晶振引脚：36pin
晶振引脚间距：0.4mm
适配晶振尺寸：2.487*2.541mm
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: 定制7050-6pin-2.54mm塑胶翻盖晶振测试座

7050晶振测试座规格参数：
晶振引脚：6pin
晶振引脚间距：2.54mm
适配晶振尺寸：7*5mm
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: 定制晶振3215-8pin-0.85mm-3.2x1.5mm下压合金顶窗式测试座

3215-8pin晶振测试座规格参数：
晶振型号：3215
引脚：8pin
引脚间距：0.85mm
适配尺寸：3.2*1.5mm
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: 定制晶振5032-10pin-1.0mm-5x3.2mm一拖16工位合金翻盖测试座

5032晶振一拖16工位测试座规格参数：
晶振引脚：10pin
晶振引脚间距：1.0mm
晶振尺寸：5*3.2mm（5032）
一拖16工位测试座
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: 定制BGA24pin-1.0mm-6x8mm塑胶翻盖晶振测试座

BGA24pin晶振测试座规格参数：
封装类型：BGA
引脚：24pin
引脚间距：1.0mm
适用芯片尺寸：6*8mm
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: 定制DFN54pin-0.45mm-5x6mm塑胶翻盖探针测试座

DFN芯片测试座规格参数：
芯片封装：DFN
芯片引脚：54pin
芯片引脚间距：0.45mm
芯片尺寸：5*6mm
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: 定制DFN14pin-0.4mm-2X3mm合金翻盖测试座

DFN芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：2×3mm
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: 7050-4晶振翻盖探针老化座测试座烧录夹具治具socket焊接式

7050-4晶振老化座特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：PEI；
③接触方式及材质：单头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：PEI；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多压力越大；更多 +

: 定制2pin-2.4_3.2×1.6一拖九工位ATE探针电容测试座

更多 +

: LED灯珠P2.6-5×5翻盖无扣测试座

更多 +

: 定制光耦4pin-1.27_2.5×4.6晶振翻盖测试座

更多 +

: 新开模晶振3225探针测试座贴片晶振老化座3225晶振老化座

产品均有尺寸图纸，如有需要请联系客服提供！
3225-4pin晶振探针老化座 3.2×2.5mm crystal socket测试座
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: 5032-4pin晶振探针老化座 5.0×3.2mm crystal oscillator测试座

工厂直销，接受批发、零售
贴片晶振5032 5.0*3.2mm 4pin晶振双面弹老化座
适用于有源晶振编程、烧录、老化
量大从优，欢迎咨询
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