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: HMILU-3225-8Pin-0.825mm塑胶翻盖晶振老化测试座

3225-8pin晶振老炼夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
晶振型号：3225
引脚：8pin
引脚间距：0.825mm
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: HMILU定制晶振2016-4L塑胶翻盖测试座

晶振2016-4L测试socket规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
封装类型：晶振2016
引脚：4pin
晶振尺寸：2.0*1.6mm
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: 5032-10pin塑胶翻盖晶振测试座socket

5032-10pin晶振测试座规格参数：
生产品牌：HMILU
晶振型号：5032
晶振引脚：10pin
晶振引脚间距：1.0mm
适配尺寸：5.0*3.2mm
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: 晶振4pin-2.24mm-3.2x2.5mm一拖十六翻盖测试座

3225晶振4pin一拖十六工位测试座规格参数：
品牌：HMILU
引脚：4pin
引脚间距：2.24mm
适配尺寸：3.2*2.5mm
一拖十六工位（开天窗）
天窗尺寸：1.5*1.5mm
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: DFN4pin-0.85mm-6.9x1.4mm翻盖晶振老化座

DFN4pin晶振老化测试座规格参数：
品牌：HMILU
封装形式：DFN
引脚数：4pin
引脚间距：0.85mm
适配尺寸：6.9*1.4mm
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: 定制WLCSP36pin-0.4mm-2.487x2.541mm塑胶翻盖晶振测试座

WLCSP36pin晶振测试座规格参数：
晶振封装形式：WLCSP
晶振引脚：36pin
晶振引脚间距：0.4mm
适配晶振尺寸：2.487*2.541mm
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: 定制7050-6pin-2.54mm塑胶翻盖晶振测试座

7050晶振测试座规格参数：
晶振引脚：6pin
晶振引脚间距：2.54mm
适配晶振尺寸：7*5mm
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: 定制晶振3215-8pin-0.85mm-3.2x1.5mm下压合金顶窗式测试座

3215-8pin晶振测试座规格参数：
晶振型号：3215
引脚：8pin
引脚间距：0.85mm
适配尺寸：3.2*1.5mm
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: 定制晶振5032-10pin-1.0mm-5x3.2mm一拖16工位合金翻盖测试座

5032晶振一拖16工位测试座规格参数：
晶振引脚：10pin
晶振引脚间距：1.0mm
晶振尺寸：5*3.2mm（5032）
一拖16工位测试座
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: 7050-4晶振翻盖探针老化座测试座烧录夹具治具socket焊接式

7050-4晶振老化座特性
①结构：翻盖式；
②外壳材质：PEI；
③接触方式及材质：单头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：PEI；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多压力越大；更多 +

[鸿怡动态]7050（7.0×5.0mm）-4PIN晶振探针老化座2022年11月21日 10:41: 晶振老化座简介一、用途:老化座、测试座，对7050(7.0*5.0)的IC芯片进行高低温老化测试二、适用封装: 7050(7.0*5.0)-4PIN贴片晶振三、探针结构，接触稳定、体积小。四、采用特殊的工程塑胶，强度高、寿命长五、镀金层加厚，触点加厚电镀，超低接触阻抗、高可靠度，使用寿命（翻盖结构20000次）六、鸿怡电子可提供规格书（布板图）资料，PDF档\CAD档规格尺寸一、型号:7050(7.0*5.0)-4PIN 二、脚位:4 三、芯片尺寸:7; 阅读（46）标签：

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