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热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: LGA32pin-0.5mm-5×5mm自动机台测试座—芯片ATE测试座

LGA32pin芯片测试夹具规格参数：
生产品牌：HMILU
芯片封装形式：LGA
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：5*5mm
芯片厚度：0.75mm
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: QFN测试烧录座 QFN自动设备用ATE测试座烧录座芯片转换座

测试座（夹具）特点：
①ATE自动化测试结构，适用于机械手放取芯片测试。
②测试座使用进口双头探针接触方式，相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输距离更短，从而使测试更稳定，频率更高。
③测试...
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: 定制SOP2509摄像头芯片ATE测试座 IC测试座厂家

1、此款测试座适用于自动烧录、测试机台.可设计成翻盖/手自一体的结构，定位精准，操作方便;
2、采用进口镀金探针和防静电材料（Torlon\pei\pps\peek) 对残球、锡球不匀的IC都能精确接触。
3、SOCKET只...
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: EMCP162/186一拖32自动机台测试座

定制产品，适配emcp162/186 封装芯片可设计任意一拖几结构；
自动测试socket
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: QFN44-0.4 ATE测试座适用于自动机台测试烧录

定制产品，适配QFN44PIN, 0.4间距的QFN系列芯片
自动测试socket
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: eMMC153 eMMC169 ATE测试座BGA系列机器测试座

新定制：是产品描述：EMMC ATE测试座适用于自动机台测试
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[新闻中心]半导体芯片如何做芯片出厂测试？如何选择芯片测试socket？2023年05月16日 16:29: 芯片测试的目的是快速了解它的本质. 当芯片被晶圆厂制作出来后, 就会进入Wafer Test的阶段. 这个阶段的测试可能在晶圆厂内进行, 也可能送往附近的测试厂商代理执行. 生产工程师会使用自动测试仪器(ATE)运行芯片设计方给出的程序, 简单的把芯片分成好的/坏的这两部分, 坏的会直接被舍弃, 如果这个阶段坏片过多, 基本会认为是晶圆厂自身的良品率低下. 如果良品率低到某一个数值之下, 晶圆厂需要赔钱. 通过了Wafer Test后, 晶圆会被切割. 切割后的芯片按照之; 阅读（40）标签：新闻|产品|定制测试座|定制测试治具|定制IC测试架

[行业资讯]了解下关于半导体芯片的FT测试环节2019年03月14日 18:03: 半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容，主要集中在WAT，CP和FT三个环节。今天介绍一下芯片测试的最后一个环节FT测试。鸿怡电子可提供用于FT测试的各类测试socket.以及ATE测试座等。 FT（final test）是对封装好的Chip进行Device应用方面的测试，把坏的chip挑出来，FT pass后还会进行process qual和prod; 阅读（931）标签：

[行业资讯]IC测试中用到的ATE测试设备有哪些？2018年12月21日 15:09: 根据被测的器件类型不同，IC测试可分为数字电路测试、模拟电路测试和混合电路测试。其中，数字电路测试是IC测试的基础，除少数纯模拟IC如运算放大器、电压比较器、模拟开关等之外，现代电子系统中使用的大部分IC都包含有数字信号。数字IC测试一般有直流测试、交流测试和功能测试，而功能测试一般在ATE上进行，ATE测试可以根据器件在设计阶段的模拟仿真波形，提供具有复杂时序的测试激励，并对器件的输出进行实时的采样、比较和判断。利用ATE测试座进行连接，安装在ATE测试设备上进行各; 阅读（861）标签：

[行业资讯]ATE测试的向量生成2018年11月16日 14:40: ATE（Automatic Test Equipment）是自动测试设备，它是一个集成电路测试系统，用来进行IC测试。一般包括计算机和软件系统、系统总线控制系统、图形存储器、图形控制器、定时发生器、精密测量单元（PMU）、可编程电源和测试台等。系统控制总线提供测试系统与计算机接口卡的连接。图形控制器用来控制测试图形的顺序流向，是数字测试系统的CPU。它可以提供DUT所需电源、图形、周期和时序、驱动电平等信息。测试向量（Test Vector）的一个基本定义是：测试向量是每; 阅读（173）标签：

[鸿怡动态]IC测试治具在探针的选择上要考虑哪些重要因素？2018年09月14日 17:42: 探针的存在在ic测试socket中充当着重要的角色，因此在定制IC测试治具时对于探针的选型就更应该慎之又慎。这也是为什么，当客户在咨询定制IC测试治具时，我们的销售人员要向您了解更详细的测试要求。; 阅读（159）标签：

[鸿怡动态]如何对IC测试座、测试治具进行清理？2018年09月13日 16:00: 经常有客户反馈，使用IC测试座一段时间后，探针尖端会残留一些锡渣或灰尘，导致测试不稳定。遇到这种问题，您可以使用防静电刷，浸入无水酒精，然后轻轻刷上探针以去除残留物。如有必要，可以使用风枪吹IC测试座探头针区域，这样效果更好;; 阅读（124）标签：

[行业资讯]接触阻抗的大小影响因素2018年09月04日 16:05: 经常，有客户在选择鸿怡电子的IC测试座时，会问到测试座的接触阻抗问题，那么，接触阻抗的大小到底跟哪些因素有关呢？下面，就让鸿怡电子的工程师为大家来解惑！; 阅读（302）标签：

[行业资讯]鸿怡电子告诉您，什么是测试探针?2018年08月28日 15:37: 鸿怡电子拥有多年的IC测试座、测试治具设计研发生产经验，所有的探针均采用国外进口品牌。保证客户的测试更加精准，稳定。测试治具的寿命也更长！欢迎来电咨询！; 阅读（71）标签：

[鸿怡动态]鸿怡电子携手美信检测为您提供最优质的IC测试座产品2018年08月22日 15:10: 18年来，鸿怡电子始终坚持“技术是根，创新是魂，人才是本”的原则来发展自己的IC测试座事业。; 阅读（73）标签：

[行业资讯]SIP封装芯片的主推及SIP老化座产品2018年08月21日 16:59: 近年来，芯片复杂度和集成度在逐渐攀升，高集成度芯片让IC测试项目变得更加复杂，SiP等新封装形式也需要用新的测试手段来应对。为了保证芯片性能的可靠性，封测厂商往往会在对芯片进行长时间的老化测试，而此也会用到大量的SIP老化座产品。; 阅读（58）标签：

[鸿怡动态]SOT和大电流功率封装芯片的IC测座2018年08月17日 17:47: 鸿怡电子现可提供SOT23-3测试座，SOT23-5测试座，SOT23-6测试座，SOT223测试座，SOT89测试座，D2PA测试座，D2PAK5测试座。; 阅读（174）标签：

[根栏目]SOT和大电流功率封装芯片的IC测座2018年08月17日 17:33: 鸿怡电子现可提供SOT23-3测试座，SOT23-5测试座，SOT23-6测试座，SOT223测试座，SOT89测试座，D2PA测试座，D2PAK5测试座。; 阅读（108）标签：

[行业资讯]IC老化测试座的清理和保养2018年08月16日 17:28: IC老化座测试座使用时间长了之后肯定会有一些灰尘和污垢，从而影响客户的测试和老化。那么我们应该如何进行清洁呢？; 阅读（128）标签：

[行业资讯]IC测试不稳定怎么办？2018年08月10日 17:55: 通常客户在用ATE测试座做IC测试的时候，经常有反馈测试不稳定的问题。有的是测试项单独测pass，整个flow跑就会不稳定。有的是调试时单步执行pass，测试项整体跑就fail。有的是手测pass，量产一跑就fail。这种不稳定的问题，往往是最令人头疼的，但其实只要仔细分析，最终还是能够找到解决方案的。; 阅读（136）标签：

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