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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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[鸿怡动态]QFN60-0.老化座_0.4间距芯片测试座_翻盖编程座_镀金弹片2021年10月13日 11:30: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN60-0.老化座_0.4间距芯片测试座_翻盖编程座_镀金弹片，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN60的IC芯片进行老化、测试适用封装:QFN60引脚间距0.4mm测试座:QFN60-0.4特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN-60-0.4引脚间距(mm):0.4; 阅读（16）标签：车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|QFN系列|DFN8|产品

[鸿怡动态]QFN56-0.4芯片测试座_下压老化座_NP506-056-006-SC-G编程座2021年10月13日 11:16: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN56-0.4芯片测试座_下压老化座_NP506-056-006-SC-G编程座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN56的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN56引脚间距0.4mm测试座:QFN56-0.4特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN-56-0.4引脚间距; 阅读（11）标签：DFN8|QFN系列|产品|WSON8|车规芯片老化测试座|QFN烧录座|QFN老化座

[鸿怡动态]QFN56芯片老化座_0.5间距芯片测试座_翻盖编程座_IC550-0564-010-G2021年10月13日 10:15: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN56芯片老化座_0.5间距芯片测试座_翻盖编程座_IC550-0564-010-G，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN56的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN56引脚间距0.5mm测试座:QFN56-0.5特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN-56-0.5引脚; 阅读（21）标签：产品|QFN系列|DFN8|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座

[鸿怡动态]QFN56老化座_0.4间距芯片测试座_翻盖编程座_IC550-0564-010-G2021年10月13日 10:04: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN56老化座_0.4间距芯片测试座_翻盖编程座_IC550-0564-010-G，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN56的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN56引脚间距0.4mm测试座:QFN56-0.4特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN-56-0.4引脚间; 阅读（17）标签：产品|QFN系列|DFN8|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座

[鸿怡动态]QFN52-0.5老化座_芯片测试座_编程座_IC550-0524-010-G2021年10月12日 12:20: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN52-0.5老化座_芯片测试座_编程座_IC550-0524-010-G，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN52的IC芯片进行老化、测试适用封装:QFN52引脚间距0.5mm测试座:QFN52-0.5特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN-52-0.5引脚间距(m; 阅读（10）标签：产品|QFN系列|DFN8|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN老化座|QFN烧录座

[鸿怡动态]QFN52老化座_0.4间距芯片测试座_编程座2021年10月12日 12:01: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN52老化座_0.4间距芯片测试座_编程座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN52的IC芯片进行老化、测试适用封装:QFN52引脚间距0.4mm测试座:QFN52-0.4 特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN52-0.4引脚间距(mm):0.4脚位:52 适; 阅读（30）标签：QFN系列|DFN8|产品|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|车规芯片老化测试座

[鸿怡动态]QFN48老化座0.4间距测试座翻盖弹片IC550-0484-004-G适配座2021年10月12日 10:18: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN48老化座0.4间距测试座翻盖弹片IC550-0484-004-G适配座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/治具/测试架/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等。产品简介产品用途：编程座、测试座，对QFN48的IC芯片进行烧写、测试适用封装：QFN48-0.4测试座：QFN48-0.4老化座规格尺寸QFN48编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适配座; 阅读（12）标签：QFN系列|DFN8|产品|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|车规芯片老化测试座

[鸿怡动态]QFN48-0.5烧录测试座_QFN48老炼座_镀金适配座_高温老化座2021年10月11日 10:31: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN48-0.5烧录测试座_QFN48老炼座_镀金适配座_高温老化座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/治具/测试架/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等产品简介产品用途：编程座、测试座，对QFN48的IC芯片进行烧写、测试适用封装：QFN48-0.4测试座：QFN48-0.4老化座规格尺寸QFN48编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适配座外形尺寸：; 阅读（22）标签：产品|QFN系列|DFN8|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|车规芯片老化测试座

[鸿怡动态]QFN44-0.4芯片测试座_翻盖老化座_镀金IC编程座IC549-0444-015-G2021年10月09日 17:09: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN44-0.4芯片测试座_翻盖老化座_镀金IC编程座IC549-0444-015-G，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/治具/测试架/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN44的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN44引脚间距0.4mm测试座:QFN44-0.4特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN-4; 阅读（18）标签：产品|QFN系列|DFN8|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座

[鸿怡动态]QFN40-0.4芯片座_QFN40老化座_间距0.4下压老化座2021年10月09日 16:38: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN40-0.4芯片座_QFN40老化座_间距0.4下压老化座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/治具/测试架/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN40的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN40引脚间距0.4mm测试座:QFN40-0.4特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN-40-0.4引脚间距(mm; 阅读（23）标签：产品|QFN系列|DFN8|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|车规芯片老化测试座

[鸿怡动态]QFN36-0.5翻盖弹片测试座_qfn36老化座_编程座_Burn-in Socket2021年10月09日 16:21: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN36-0.5翻盖弹片测试座_qfn36老化座_编程座_Burn-in Socket，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/治具/测试架/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等产品简介产品用途：编程座、测试座，对QFN36的IC芯片进行烧写、测试适用封装：QFN36引脚间距0.5mm测试座：QFN36-0.5特点：底部引出引脚为不规则排列规格尺寸QFN36编程座; 阅读（16）标签：QFN系列|产品|DFN8|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|车规芯片老化测试座

[鸿怡动态]QFN36-0.4测试座_IC老化座_NP506-036编程座_Burn-in Socket2021年10月09日 16:10: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN36-0.4测试座_IC老化座_NP506-036编程座_Burn-in Socket，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/治具/测试架/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN36的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN36引脚间距0.4mm测试座:QFN36-0.4特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN; 阅读（17）标签：产品|QFN系列|DFN8|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座

[鸿怡动态]QFN32-0.4CPO1GT翻盖弹片老化座_qfn适配器烧写座_QFN老化测试座2021年10月09日 15:53: 工厂介绍鸿怡电子生产QFN32-0.4CPO1GT翻盖弹片老化座_qfn适配器烧写座_QFN老化测试座，同时还生产其他种类齐全的芯片封装测试座/老化座/烧录座/测试夹具/治具/测试架/BGA/EMMC/EMCP/QFP/QFN/SOP/SOT/DDR/FPC/connector等产品简介产品用途:编程座、测试座，对QFN32的IC芯片进行烧写、测试适用封装:QFN32引脚间距0.4mm测试座:QFN32-0.4特点:采用U型顶针，接触更稳定规格尺寸型号:QFN-32-0; 阅读（16）标签：QFN系列|DFN8|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|产品|车规芯片老化测试座

[常见问题]IC测试座的清洁和保养2021年10月08日 12:18: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。 IC测试座使用一段时间后，针尖会残留一些锡渣或者灰尘，将引起测试不稳定；可以使用防静电刷，蘸上无水酒精，轻轻刷探针去除残留物，有条件可以使用气枪吹socket探针区域，效果更好；（注意：不要使用洗板水，因为洗板水会和探针表面镀金层反应，影响测试稳定性）如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（78）标签：产品|QFN系列|DFN8|BGA测试座|BGA定制测试座|BGA老化测试座|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|微针模组

[常见问题]ICsocket关于PCB板的设计2021年10月08日 12:15: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。为了保障PCB板的强度和接触稳定性，建议客户PCB板的厚度1.6mm，焊盘镀金抗氧化性更强，锁螺丝处覆铜；如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（91）标签：产品|QFN系列|DFN8|BGA测试座|BGA定制测试座|BGA老化测试座|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|微针模组

[常见问题]产品结构件材料的性能区别2021年10月08日 12:09: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。钻孔板、浮板为socket的核心部件，起到固定探针，导向芯片的作用，测试时经常磨损，所以对材料的要求很高，目前市面上常用的材料有FR4、Torlon PAI、PEI、PPS、peek+陶瓷等。 FR4是普通材料，性能最差，容易磨损，毛刺较多，长时间测试，容易出现测试不稳定现象，已经慢慢淘汰，而其他四种为工; 阅读（124）标签：DFN8|QFN系列|产品|BGA测试座|BGA定制测试座|BGA老化测试座|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|微针模组

[常见问题]探针烧毁的原因分析2021年10月08日 12:04: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。某些IC芯片有可能内部短路，在测试时，造成电流过大，引起探针、针板等配件烧坏，甚至烧坏客户的PCBA板，所以在上电测试之前一定要确保IC芯片是没有内部短路的；如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（86）标签：BGA测试座|DFN8|QFN系列|车规芯片老化测试座|WSON8|产品|BGA老化测试座|BGA定制测试座|QFN烧录座|微针模组|QFN老化座

[常见问题]有锡球/无锡球测试的区别2021年10月08日 12:01: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。有锡球测试：指测试带有完整锡球的IC芯片，采用爪头探针，直接与锡球接触；无锡球测试：指测试没有锡球的IC芯片，采用尖头探针，直接与PAD接触；如有不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（51）标签：DFN8|QFN系列|产品|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|微针模组|车规芯片老化测试座|BGA老化测试座|BGA测试座|BGA定制测试座

[常见问题]测试探针的结构和使用寿命2021年10月08日 11:56: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。一般探针的材质为铍铜，外为镀镍金，由四个部分组成：针头、针管、针尾、琴钢丝；以此款探针的为例，管径为0.65mm，适用于0.8pitch；耐电流为：3A；机械测试寿命为：30 W次；使用温度为：-25～+120C；如有其他不明白的地方可以在网站对话窗口直接咨询业务工程师; 阅读（280）标签：产品|QFN系列|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|微针模组|车规芯片老化测试座|BGA老化测试座|DFN8|BGA测试座|BGA定制测试座

[常见问题]ICsocket相关测试座产品报价原则？2021年10月08日 11:03: 感谢您选择深圳市鸿怡电子有限公司，我司主营各封装芯片的老化座、测试座以及非标芯片、邮票孔模块等需要精密测试器件的测试、老化socket定制。; 阅读（51）标签：产品|QFN系列|DFN8|BGA测试座|BGA定制测试座|BGA老化测试座|车规芯片老化测试座|WSON8|QFN烧录座|QFN老化座|微针模组

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