- [行业资讯]5G时代芯片测试工程师面临的具大挑战！2019年08月21日 14:09
- 相比于 4G 网络，5G 网络速度可达 4G 的数倍乃至数十倍，这其中毫米波技术无疑5G时代关键一环，具有重要的应用前景。 作为芯片业者，5G时代对应的相关IC芯片测试，对测试工程师们具有很大挑战。IC测试亟需快速、准确且经济高效的测试解决方案来确保新型芯片设计的可靠性。5G芯片即将推出，ANDK测试座也将提供支持5G芯片测试的IC test socket产品。 5G时代芯片测试的五大挑战 1.波形变得更宽且更复杂。 研究人员和工程师在测试5G设备时，
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- [鸿怡动态]IC socket材料选用2019年04月02日 17:59
- 我们都知道，IC测试座是用来给芯片做测试使用，那么，芯片测试的精准度，一方面取决于测试座加工厂商根据自身行业经验在加工时的孔位精准，材料也是一个重要因素。 鸿怡电子的IC测试治具所采用的材料，根据全球主流竟品材料优缺点分析，经过客户反馈、开发和反复测试，所采用的材料以PEEK为基材，添加陶瓷粉进行填充共混改性,易加工，高尺寸稳定性，耐辐照性，阻燃性等显著优势，相比普通PEEK，可以有效减少打孔时的毛刺问题。可以满足IC芯片测试80μ-250μm微孔加工要求，是手机测试治具、高
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