“鸿”业之愿于精密检测“怡”心一意只为IC服务

首页 精密定制IC测试座

HMILU-BGA70pin-0.5mm-5.5x5.5mm合金翻盖探针芯片测试座

HMILU-BGA70pin-0.5mm-5.5x5.5mm合金翻盖探针芯片测试座HMILU-BGA70pin-0.5mm-5.5x5.5mm合金翻盖探针芯片测试座HMILU-BGA70pin-0.5mm-5.5x5.5mm合金翻盖探针芯片测试座HMILU-BGA70pin-0.5mm-5.5x5.5mm合金翻盖探针芯片测试座

产品简介

BGA70pin芯片测试座规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形：BGA
芯片引脚：70pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：5.5*5.5mm

产品详情

鸿怡电子生产定制的HMILU-BGA70pin-0.5mm-5.5x5.5mm合金翻盖探针芯片测试座的产品简介、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍

适用于BGA70pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，芯片性能测试、芯片功能性测试、芯片可靠性测试

BGA70pin芯片测试夹具产品简介：

芯片测试电流：800mA

芯片测试频率：400Mhz

芯片测试温度：-45°~+125°

芯片测试座socket结构：翻盖式

芯片测试夹具材料：合金

IC测试座

BGA芯片测试socket

IC测试夹具

芯片测试座

上一页 余下全文

1/5

我要下单

  • 姓名
  • 手机
  • 留言

关于“产品,BGA测试座,BGA定制测试座,定制测试治具,定制测试座,BGA老化测试座,定制IC测试架”的相关产品

HMILU定制QFN64pin-0.5mm-9x9mm合金翻盖芯片测试座HMILU定制QFN64pin-0.5mm-9x9mm合金翻盖芯片测试座HMILU定制功率探测器82pin-1.0mm-45x48mm合金翻盖式器件测试座HMILU定制功率探测器82pin-1.0mm-45x48mm合金翻盖式器件测试座

HMILU-DFN8pin-0.55mm-8x8mm合金翻盖探针芯片测试座HMILU-DFN8pin-0.55mm-8x8mm合金翻盖探针芯片测试座HMILU-模块44PIN-0.55mm-10.1x22.45mm合金旋钮翻盖测试座HMILU-模块44PIN-0.55mm-10.1x22.45mm合金旋钮翻盖测试座

HMILU-BGA225pin-1.27mm-20x20mm合金旋钮翻盖式芯片测试座HMILU-BGA225pin-1.27mm-20x20mm合金旋钮翻盖式芯片测试座HMILU-DFN20pin-0.55mm-6.9x2.6mm合金翻盖式芯片测试座HMILU-DFN20pin-0.55mm-6.9x2.6mm合金翻盖式芯片测试座

HMILU-QFN64pin-0.5mm-9x9mm合金翻盖芯片测试座HMILU-QFN64pin-0.5mm-9x9mm合金翻盖芯片测试座HMILU-QFN28pin-0.5mm-4X4mm合金翻盖探针芯片测试座HMILU-QFN28pin-0.5mm-4X4mm合金翻盖探针芯片测试座

HMILU-射频模块77pin-1.5mm-45x50mm合金翻盖测试座socketHMILU-射频模块77pin-1.5mm-45x50mm合金翻盖测试座socketHMILU-QFN24pin-0.35mm-3.0x3.0mm合金翻盖探针芯片测试座HMILU-QFN24pin-0.35mm-3.0x3.0mm合金翻盖探针芯片测试座

热点推荐

电子产品寿命短？HAST老化试验做了吗？寻找志同道合的工作伙伴！

网友热评