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» 搜索:治具测试
定制BGA169-0.5(7x7)合金翻盖旋钮探针测试座老化座夹具socket
BGA169测试
治具测试
座老化座夹具socket
1、工作温度:-55℃~155℃;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:铝合金;
3、探针镀覆:3μ" Au over 50-100μ" Ni;
4、单PIN...
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DDR3x16位(96ball)一拖四导电胶内存条颗粒测试
治具测试
夹具
产品简介:适用与DDR3,16位(96球)内存颗粒memory测试;
适配颗粒:BGA96球,0.8间距颗粒;
适用频率:≤3200MHZ;
额定电流:1.5A;
接触材料:进口导电胶;
重要特点:治具超薄厚度,不...
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DDR4x16位(96ball)一拖四导电胶内存条颗粒测试
治具测试
夹具
产品简介:适用与DDR4,16位(96球)内存颗粒memory测试;
适配颗粒:BGA96球,0.8间距颗粒;
适用频率:≤3200MHZ;
额定电流:1.5A;
接触材料:进口导电胶;
重要特点:治具超薄厚度,不...
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赛灵思 FBGA484 功能性测试治具 测试架 检测夹具 测试socket
BGA484测试架测试
治具测试
夹具
性能参数:
接触方式:pogoPIN
机械寿命:10万+
工作频率:700MHZ;
工作温度:常温;
单PIN电流:1A;
接触阻抗:≤10...
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定制非标PEI塑胶探针老化夹具治具
治具测试
座socket
产品简介:开模注塑外壳,核心部分通过CNC加工的方式定制各种非标老化测试座。
适配芯片尺寸:小于6*8mm
座子外形尺寸:12*18mm
耐温范围:-40℃~125℃,相对湿度小于85%
接触方式:pogoPIN
...
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定制BGA676-1.0测试
治具测试
架夹具socket测试座
测试架(夹具)特点:
①翻盖旋钮结构,压合平稳接触稳定。
②外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
③使用进口双头探针接触方式,相比同类测试产品使IC与PCB之间数据传输...
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定制QFP100-0.5 14x14合金翻盖旋钮测试
治具测试
架治具
QFP芯片测试架简介:
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试QFP100封装的微控制器芯片。
测试架类型:翻盖旋钮式
接触方式:双头测试探针
工作频率:430Mhz
特点:①按芯片管...
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OTS-16-1.27(2.54)-04下压弹跳座老化夹具老炼
治具测试
烧录socket
特点:
采用双触点技术,接触稳定;
座子外壳采用特殊的工程塑胶,强度高、寿命长
弹片采用进口铍铜材料,阻抗小、弹性号、寿命长
镀金层加厚,触点加厚电镀,接触稳定超低接触阻抗、抗氧化程度...
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定制BGA48翻盖探针测试架测试治具夹具工装socket
产品简介:
①根据客户提供的产品来设计固定被测芯片socket,用于免焊接快速验证测试芯片功能。
②采用铝合金夹板,表层氧化绝缘,经久耐磨。
③核心精密针板采用PEEK工程材料CNC加工而成,精准度可达...
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88E1111 MARVELL测试
治具测试
架QFN96测试夹具socket
产品简介:88E1111 MARVELL 芯片QFN96封装测试治具(光通信接头)
性能参数:
工作频率:2.5GHZ;
工作温度:40℃~85℃;
单PIN电流:1A;
功率:无要求;
接触阻抗:≤100mΩ
射...
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定制QFN64翻盖探针测试
治具测试
架测试座socket
产品简介:
设计方式:利用客户测试主板上面原有的孔位设计限位及固定、空间占比低,更换简单易维修。
性能参数:频率2.5Gbps
提供三个月免费保修(人为损坏除外)。
保修期外,免费维修,如果...
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定制LCC40烧录座测试夹具
治具测试
socket
①结构:翻盖式;
②外壳材质:铝合金;
③接触方式及材质:双头探针,铍铜镀金;
④核心部件材质:peek陶瓷;
⑤额定电流:1A;
⑥操作压力:30g、PIN越多压力越大;
⑦接触电阻:<...
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定制PLCC52\LCC52翻盖探针测试座老化夹具
治具测试
socket
测试座(夹具)特点:
①测试座设计翻盖式结构,使用测试简单方便,压合平稳接触稳定,盖子开窗满足测试实时观察现象需求。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质,表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
...
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LQFP\TQFP\QFP48-0.5翻盖弹片老化座夹具
治具测试
工装socket
材料&特性:
socket本体:PEI\LCP
弹片材料:铍铜
弹片镀层:镍金
操作压力:0.5KG min ,PIN越多压力越大
绝缘阻抗:1,000MΩ500VDC
最大电流:2A
使用温度:-55℃~155℃@3000小...
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定制FPC软排金手指非标BGA测试架测试
治具测试
夹具LCD屏测试架BGA测试座
二十余年专业定制各种非标封装测试座烧录座夹具socket
来图定制、一件起订
结构:翻盖式
材质:铝合金、KEEP、镀金探针
寿命:10W+
温度:-55℃-155℃@1000h
应用:烧录、编程、测试、...
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[鸿怡动态]icsocket测试
治具测试
针的功能
2019年04月18日 14:33
测试探针是icsocket测试治具的重要组成部分,是直接决定icsocket测试治具质量的关键性因素,那么测试探针主要有哪些功能呢?下面一起来了解下吧。 1、增强耐用度 测试探针设计使弹簧空间比传统探针要大,因而可以达到更长的寿命和容纳更强的弹力。 2、独有的永不间断电接触设计 行程超过或不足2/3其电性接触皆能保持性低阻值。彻底消除任何因探针导致的假性开路误叛。 3、至目标测点精准度误差更严谨 测试
治具测试
针能达到同类型产品无法比拟的至目标测点精准度。
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