鸿怡电子生产定制的BGA516pin-0.8mm-25x25mm合金下压芯片测试座socket_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家
适用BGA516pin芯片模拟电路测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试、芯片功能性测试
BGA516pin芯片测试夹具产品简介：
芯片测试频率：30Mhz
芯片测试电流：50mA
芯片测试温度：-40°~+125°
我厂支持非标来图一件定制，提供完善的整套IC测试解决方案，并可提供类似案例参考，详询请联系客服
“鸿”业之愿于精密检测“怡”心一意只为IC服务
首页 精密定制IC测试座
定制BGA516pin-0.8mm-25x25mm合金下压芯片测试座socket
产品简介
BGA516pin芯片测试座socket规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式;BGA
芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式;BGA
芯片引脚：516pin（实际下针130pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：25*25mm
接触介质：探针
测试座结构：下压式
测试座材料：合金、PEEK
产品详情
我要下单
-
姓名
-
手机
-
留言
关于“产品,定制测试座,BGA测试座,BGA定制测试座,定制测试治具,BGA老化测试座,定制IC测试架”的相关产品
定制BGA338pin-0.65mm-13x13mm测试夹具,BGA封装塑胶旋钮探针芯片测试座
定制QFN28pin-0.4mm-3.5X3.5mm芯片测试座,QFN封装塑胶翻盖探针芯片老化座socket
定制BGA507pin-0.5mm-12x13.5mm合金旋钮翻盖芯片测试座socket
定制QFP128pin-0.5mm-22.8x16.8mm芯片测试治具
定制QFP256pin-0.4mm-28x28mm塑胶翻盖探针芯片测试座
定制DIP34pin-3.8mm-57.1x89.3mm合金旋钮翻盖芯片测试座
定制WLCSP8pin-0.35mm-1.6x0.861mm塑胶翻盖芯片老炼测试夹具
定制模块8pin-2.2mm-7.5x10mm合金翻盖测试座socket
LGA30pin-1.0mm-10×10mm塑胶翻盖弹片射频器件测试座
QFN16pin-0.8mm-4X4mm塑胶翻盖芯片测试座socket