定制QFN28pin-0.4mm-3.5X3.5mm芯片测试座,QFN封装塑胶翻盖探针芯片老化座socket

产品简介

QFN28pin芯片老炼测试夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：28pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：3.5*3.5mm
老化座接触介质：探针
老炼夹具结构：翻盖式
老化测试座材料：PEI

鸿怡电子生产定制的QFN28pin-0.4mm-3.5X3.5mm芯片测试座,QFN封装塑胶翻盖探针芯片老化座socket_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家

适用于QFN28pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片可靠性测试、芯片高性能测试、芯片功能性测试

QFN28pin芯片老化测试座socket产品简介：

芯片测试频率：带宽＞1.1Ghz

芯片测试电流：满足单pin1A以内

芯片老化测试温度：-45°~+125°

差分特征阻抗：CLK OUT 差分85Ω，CLK IN差分阻抗100Ω差损：＜2dB@5Ghz，回损：＜-10dB,功耗3W

IC老炼座

IC老化测试夹具

QFN芯片老炼测试夹具

QFN芯片老化测试座

上一页余下全文

1/5