LGA30pin-1.0mm-10×10mm塑胶翻盖弹片射频器件测试座

产品简介

LGA30pin芯片测试夹具规格参数：
生产品牌厂家：鸿怡电子—HMILUI
芯片封装形式：LGA
芯片引脚：30pin
芯片引脚间距：1.0mm
适配芯片尺寸：10*10mm
接触介质：弹片
测试座结构：翻盖式
测试座材料：PEI

鸿怡电子生产定制的LGA30pin-1.0mm-10×10mm塑胶翻盖弹片射频器件测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家

适用于LGA30pin射频器件模拟电路测试环境：老化、测试、烧录、支持射频芯片可靠性测试、器件高性能测试、芯片功能性测试

LGA30pin芯片测试座产品简介：

器件测试频率：最高10Ghz

射频器件测试插损：小于1db，驻波比小于-15db

器件测试电流：630mA

我厂支持非标来图一件定制，提供完善的整套IC测试解决方案，并可提供类似案例参考，详询请联系客服

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