适用于QFP256pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片高性能测试、芯片可靠性测试、芯片功能性测试
QFP256pin芯片测试夹具产品简介：
芯片测试频率：150Mhz
芯片测试电流：300mA
芯片测试温度：-45°~+135°
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定制QFP256pin-0.4mm-28x28mm塑胶翻盖探针芯片测试座
产品简介
QFP256pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：QFP
芯片引脚：256pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：28*28mm
接触介质：探针
测试座结构：旋钮翻盖式
测试座材料：合金、PEEK
芯片封装形式：QFP
芯片引脚：256pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：28*28mm
接触介质：探针
测试座结构：旋钮翻盖式
测试座材料：合金、PEEK
产品详情
深圳鸿怡电子生产定制的QFP256pin-0.4mm-28x28mm塑胶翻盖探针芯片测试座_简介_性能_特点_规格_应用_生产厂家
适用于QFP256pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片高性能测试、芯片可靠性测试、芯片功能性测试
QFP256pin芯片测试夹具产品简介：
芯片测试频率：150Mhz
芯片测试电流：300mA
芯片测试温度：-45°~+135°
适用于QFP256pin芯片测试环境：老化、测试、烧录，支持芯片高性能测试、芯片可靠性测试、芯片功能性测试
QFP256pin芯片测试夹具产品简介：
芯片测试频率：150Mhz
芯片测试电流：300mA
芯片测试温度：-45°~+135°
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