鸿怡电子生产定制的LGA64pin-0.8mm-8.8x8.8mm合金翻盖芯片测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用LGA64pin芯片测试环境:老化、测试、烧录
LGA64pin芯片测试座产品简介:
芯片测试温度:-45°~+125°,持续时长:72小时
芯片测试电压:DC-3.3V
芯片测试电流: 1A
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:合金
鸿怡电子生产定制的LGA64pin-0.8mm-8.8x8.8mm合金翻盖芯片测试座的产品概述、性能、特点、规格、应用、生产厂家介绍
适用LGA64pin芯片测试环境:老化、测试、烧录
LGA64pin芯片测试座产品简介:
芯片测试温度:-45°~+125°,持续时长:72小时
芯片测试电压:DC-3.3V
芯片测试电流: 1A
芯片测试座结构:翻盖式
芯片测试座材料:合金