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“怡”心一意只为IC服务
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HMILU定制PGA153pin端子板/转接板
PGA153pin芯片端子板规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:PGA
芯片引脚:153pin
芯片引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:26*22mm
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HMILU-PGA72pin-1.27mm-40×32mm合金翻盖探针芯片测试座
PGA72pin芯片测试座规格参数:
生产品牌厂家:鸿怡电子—HMILU
芯片封装形式:PGA
芯片引脚:72pin
芯片引脚间距:1.27mm
适配芯片尺寸:40*32mm
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PGA24测试夹具PGA插座老化治具SOKCET拔插插座卡座转换座
产品简介:PGA封装器件探针测试夹具
1、工作温度:-55℃~155℃@5000h;
2、针板材质:陶瓷peek;外壳材质:铝合金;
3、探针镀覆:3μ" Au over 50-100μ" Ni(鍍金3μ",鎳底50~100μ");
4、单...
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BGA\FBGA\PGA 测试架 544ball 测试治具 夹具 翻盖旋钮探针
产品简介:
用途:在客户原有的产品上面验证测试BGA544封装的CPU。
测试架类型:翻盖旋钮式
接触方式:双头测试探针
工作频率:1.2Ghz
特点:
1:采用翻盖式旋钮结构,压力均匀,不移...
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定制FPGA124Pin-1.27(45×45mm)核心板模块测试治具
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BGA测试治具FPGA484测试架测试夹具Altera可编程嵌入式芯片测试架
二十余年专业定制各种非标封装测试架\测试治具\测试夹具\测试座\烧录座\socket
来图定制、一件起订
结构:翻盖旋钮式
材质:铝合金、KEEP、镀金探针
寿命:10W+
温度:-55℃-155℃@1000h
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BGA306测试治具 BGA测试架 CPU测试夹具 FPGA测试治具 BGA测试座
采用手动翻盖式结构,操作方便;
上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,压力均匀,不移位;
探针的爪头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠;
高精度的定位槽,保IC定位精确;
采用浮板...
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QFN10(3*3)下压弹片测试座 芯片适配座QFN10老化座0.5间距
鸿怡电子主要生产、销售各类IC测试座,IC测试夹具,老化测试座,高频测试座,BGA测试插座,贴片SOP测试插座等.测试座封装含概:BGA,,CSP,PGA,QFN,MLF,LGA,QFP,TSOP,SOP,PLCC,SOJ,TO等,并且可以根据客户需求定制BGA/QFN测试...
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[新闻中心]IC测试座工程师:PGA芯片的封装、特点与应用场景,PGA芯片测试座参数与选配
2024年01月02日 15:47
一、芯片封装 根据鸿怡电子PGA芯片测试座工程师介绍:PGA芯片封装采用了球栅阵列(BGA)技术,通过焊球连接芯片与主板,形成可靠的电连接。相比传统的封装技术,PGA芯片具有更高的密度和更低的传输延迟,使得其在高速通信和计算领域中具备了巨大的优势。 二、特点分析 1. 高性能:PGA芯片采用了先进的多层封装技术,能够容纳更多的功能和电路。其高速传输和低功耗的特性使其在大数据处理、人工智能等领域能够发挥出色的性能。 2. 高密度:PGA芯片的封装结构紧凑,可以将更多
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[新闻中心]芯片测试座工程师带您了解:鸿怡电子非标芯片测试解决方案,加工定制芯片测试座需要哪些参数
2023年11月16日 15:01
根据芯片封装封装形式:如BGA/LGA/PGA封装、QFN/DFN/WSON封装、QFP/OTQ封装、SOP/OTS/SOIC封装、UFS/EMCP/EMMC封装、SOT封装、TO/TOLL封装、PLCC封装,SMA/ABM/SMC二极管封装、FP封装DDR-memory、SSD-Flash、晶振以及微小芯片封装,功率元器件、ZIF/DIP锁紧座等等 鸿怡电子芯片测试座工程师提示:按照以上芯片封装形式的芯片查询其芯片的规格参数信息(芯片规格书均有标注),(例如QFN32-
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[新闻中心]芯片测试:鸿怡电子芯片OS测试解决方案与芯片测试座的特点
2023年11月01日 15:59
常见的芯片封装类型有BGA、QFN、LGA、PGA、QFP、SOP等等,不同的封装类型适用于不同的应用环境和芯片尺寸。无论是哪种封装类型,芯片OS测试都是必需的。
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[新闻中心]5分钟带您了解目前主流的芯片老化测试座socket
2023年07月21日 10:26
芯片老化座又称为芯片老炼座,IC burn in socket, IC aging socket,目前主流的封装包括:BGA QFN QFP SOP SOIC PGA FPGA FP TF DIP等封装的老化测试座。老化测试因其测试的侧重点不同又分为:HAST、PC、HTRB、HTGB、HTOL、LTOL、HTSL、LTSL、THB等测试种类,基本上围绕着高温、低温、高湿的环境来,同时辅助对应的测试时长。芯片老化低温最低是-55℃,最高一般在155℃,不过也有特殊芯片需要17
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[新闻中心]芯片测试座在IC芯片测试中的作用以及三种测试?
2022年11月16日 14:41
IC芯片测试座具有操作简单、故障定位准确、方便快捷、测试良率高等特点。简单描述就是一款连接芯片与PCB板的连接器插座; IC芯片测试座主要有3种作用: 1、来料检测:买回来IC使用时,有时会进行质量检验,发现不良产品,然后进行改进SMT的良率。IC芯片肉眼看不到质量,需要通电导通测试,常用方法检测IC芯片无法完全判断电流、电压、电感、电阻IC好坏;通过测试座可以详细判断IC应用的功能及跑程序的好坏。 2、维修检测:有时主板在生产过程中出现问题,哪里出了问题?很难判断!IC
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[鸿怡动态]CMOS芯片常见的LGA、PGA、BGA封装芯片鸿怡电子测试座socket!
2022年11月07日 12:04
早在2015年,我国明确将红外探测器列为国产化的重点对象,并出台了一系列相关政策支持。经过多年的发展,我国在探测器领域实现了具有材料的关键技术的自主可控性,MEMS传感器芯片,CMOS读取电路、制冷机、杜瓦封装、整机制备的全产业链生产能力。以及配套的测试相关设备目前已相当成熟,特别是对于目前的CMOS封装相关的如LGA封装芯片测试座、PGA封装芯片测试座、BGA封装芯片测试座socket 新兴领域封装:传感器、执行器、微机电系统、纳米机电系统、微光机电系统封装技术;光电封装
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[鸿怡动态]关于大电流BTB弹片微针模组的产品介绍
2019年07月15日 17:09
鸿怡电子成立于2000年是一家集科研、生产、销售于一体 的技术密集型高新企业,专业研制、开发、生产各类 IC的Burn-in Socket、Test Socket及各类IC测试治具 ,向客户提供专业的集成电路测试、烧录、老化试验等的连接解决方案; 专业研制、开发、生产各类高性 能、低成本的Burn-in Test Socket及各类IC测试治 具,适用于多种封装: BGA,PGA,QFN,CSP,CLCC,QFP,TSOP 众所周知,目前的3C电子产品所用锂电池在生产过程中
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[行业资讯]IC设计产业2019年展望-AI芯片将朝高性价比发
2018年12月10日 17:17
AI将成网通领域重要功能 有别于2017年,各大厂竞相将AI功能导入IC,2018年发展重点之一,就是网通芯片厂商也开始导入AI功能,像是Broadcom和Wave Computing的合作就是集各家之长,希望提供网通设备厂商在网络流量的处理工作上能更加智慧化,进而提升整体系统的性价表现。 同为FPGA大厂Xilinx延续过去市场策略,发展重心之一依然是网通设备领域,新一代ACAP产品线,在全线导入AI功能情况下,将使得网通设备更加智慧化。 AI成军备竞赛指标,性价比成201
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[鸿怡动态]BGA老化座的特点
2018年04月10日 17:17
鸿怡电子有限公司是一家集科研、生产、销售于一体的技术密集型高新企业,专业研制、开发、生产各类IC的Burn-in Socket、Test Socket及各类IC测试治具,向客户提供专业的集成电路测试、烧录、老化试验等的连接解决方案;专业研制、开发、生产各类高性能、低成本的Burn-in & Test Socket及各类IC测试治具,适用于多种封装:BGA,PGA,QFN,GCSP,CLCC,QFP,TSOP……
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[常见问题]鸿怡IC test socket特点
2017年10月17日 15:17
深圳市鸿怡电子有限公司是中国首家专业设计制造高性能、低成本Burn-in & TestSocket和BGA/QFN/ IC测试治具的供应商,我们的产品使用寿命长、测试精度高,获得多项中国国家发明专利和适用新型专利。适用于多种集成电路封装产品:BGA,PGA,QFN,CSP,QFP,DFN,SOP..….
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[行业资讯]总结IC测试治具对比人工测试的优势
2017年04月26日 15:41
深圳鸿怡电子有限公司是深圳首家自主生产研发IC测试座的厂家,专业研制、开发、生产各类IC的Burn-in Socket、Test Socket及各类IC测试治具,向客户提供专业的集成电路测试、烧录、老化试验等的连接解决方案;专业研制、开发、生产各类高性能、低成本的Burn-in & Test Socket及各类IC测试治具,适用于多种封装:BGA,PGA,QFN,GCSP,CLCC,QFP,TSOP等
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