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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: 定制LCC8pin-1.27mm-3x3mm一拖十六合金旋钮双扣测试座

LCC8pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：3*3mm
一拖十六工位
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: 定制LCC22pin-2.03mm-15.2*15.2mm芯片合金翻盖探针测试座

LCC22pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：22pin
芯片引脚间距：2.03mm
适配芯片尺寸：15.2*15.2mm
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: 定制LCC48pin-0.8mm-11x11x1.82mm合金翻盖探针测试座

LCC48pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：11*11mm
芯片厚度：1.82mm
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: 定制LCC24pin-1.27mm-10x10mm合金翻盖探针测试座

LCC24pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：10*10mm
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: 定制LCC4(下7PIN）-0.8mm（2x1.45mm)合金翻盖探针测试座

LCC4pin（实际下针7pin）芯片测试座规格参数信息：
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：4pin（实际下针7pin）
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：2*1.45,mm
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: 定制LCC10pin-0.65mm-3x3mm合金翻盖探针测试座

LCC10pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：LCC
芯片引脚：10pin
芯片引脚间距：0.65mm
适配芯片尺寸：3*3mm
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: 定制CLCC84pin-0.8mm-22X22mm合金翻盖测试座

CLCC84pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：CLCC
芯片引脚：84pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：22*22mm
芯片厚度：4.25mm
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: 定制LCC8pin-1.27mm-5x5mm一拖九工位合金翻盖测试座

LCC8pin芯片一拖多工位测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：1.27mm
适配芯片尺寸：5*5mm
一拖九工位测试座
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: 定制LCC84pin-1.27mm-29.21x29.21mm合金翻盖探针测试座

LCC84pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：84pin
芯片引脚间距：1.27mm
适用芯片尺寸：29.21*29.21mm
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: 定制LCC48pin-0.5mm-8.5x8.5mm合金翻盖探针测试座

LCC48pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LCC
芯片引脚：48pin
芯片引脚间距：0.5mm
适用芯片尺寸：8.5*8.5mm
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: 定制模块PLCC48pin-1.0mm-16.4x16.4mm合金翻盖探针测试座

PLCC48pin模块探针测试座规格参数：
封装类型：PLCC
模块引脚：48pin
引脚间距：1.0mm
模块尺寸：16.4×16.4mm
模块厚度：4.0mm
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: 定制CLCC24-1.27合金翻盖顶窗测试座夹具老化座

CLCC24测试座特性
①结构：顶窗翻盖式；
②外壳材质：铝合金；
③接触方式及材质：双头探针，铍铜镀金；
④核心部件材质：peek陶瓷；
⑤额定电流：1A；
⑥操作压力：30g、PIN越多压力...
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$定制PLCC52\LCC52翻盖探针测试座老化夹具治具测试socket$: 定制PLCC52\LCC52翻盖探针测试座老化夹具治具测试socket

测试座（夹具）特点：
①测试座设计翻盖式结构，使用测试简单方便，压合平稳接触稳定，盖子开窗满足测试实时观察现象需求。
②测试座外壳采用阳极硬氧铝合金材质，表层绝缘耐磨、抗氧化强使用年限长。
...
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$plcc\LCC24翻盖高低温老化座夹具0.5pitch$: plcc\LCC24翻盖高低温老化座夹具0.5pitch

材料&特性：
socket本体：PEI\LCP
弹片材料：铍铜
弹片镀层：镍金
操作压力：0.5KG min ，PIN越多压力越大
绝缘阻抗：1,000MΩ500VDC
最大电流：2A
使用温度：-55℃~155℃@3000小...
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: 定制LCC44-1.1(16×18mm)合金翻盖探针测试座

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: 定制LCC76模块-0.9（20×20mm)合金翻盖探针测试座

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