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鸿怡测试座采用进口玻铜材料

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: BGA96pin-0.8mm单面弹老化测试座（C形针）

BGA芯片老化测试座规格参数
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：96pin
芯片引脚间距：0.8mm
芯片尺寸：13×7.5mm
更多 +

: 定制LGA24pin-0.7mm-5.5x6.5mm合金翻盖探针老化座

LGA芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.7mm
芯片尺寸：5.5*6.5mm
更多 +

: 定制模块110pin-1.0mm-39X34mm合金翻盖弹针测试座

模块110pin弹片测试座规格参数：
模块引脚：110pin
模块引脚间距：1.0mm
模块尺寸：39×34mm
更多 +

: 定制TO252-5pin合金翻盖老化座

TO252-5pin老化测试座规格参数：
封装类型：TO252
引脚：5pin
引脚间距：1.14mm
本体尺寸：6.4mm
含引脚尺寸：10.6mm
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: 定制DFN14pin-0.4mm-2X3mm合金翻盖测试座

DFN芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：DFN
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：2×3mm
更多 +

: 定制SOP24pin-1.52pin-（21x11.7mm)合金旋钮探针老化测试座

SOP芯片老化座规格参数：
芯片封装类型：SOP
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：1.52mm
芯片尺寸：21×11.7mm
更多 +

: 定制SIP25pin-1.27mm-15x15mm合金翻盖测试座

SIP25pin芯片测试座规格参数：
封装类型：SIP
引脚：25pin
引脚间距：1.27mm
尺寸：15×15mm
更多 +

: 定制LGA92pin-0.45mm-12x12mm塑胶翻盖探针测试座

LGA芯片测试座规格参数：
芯片引脚：92pin
芯片引脚间距：0.45mm
芯片尺寸：12×12mm
芯片厚度：1.15mm
更多 +

: 定制传感器模块7pin-1.0mm-6.6x2.9mm塑料翻盖弹片测试座

传感器模块弹片测试座规格参数：
模块引脚：7pin
引脚间距：1.0mm
模块尺寸：6.6×2.9mm
更多 +

: 定制电源芯片BGA77pin-1.27mm-9x15mm合金旋钮翻盖测试座

BGA芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：77pin
芯片引脚间距：1.27mm
芯片尺寸：9×15mm
更多 +

: 定制BGA144pin-1.27mm-（16x16x5.01mm）合金旋钮探针测试座

BGA144pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：BGA
芯片引脚：144pin
芯片引脚间距：1.27mm
芯片尺寸：16*16mm
芯片厚度：5.01mm
更多 +

: 定制传感器模块29pin-1.1mm-27.5x27.5mm合金翻盖探针测试座

传感器模块测试座规格参数：
模块引脚：29pin
引脚间距：1.1mm
模块尺寸：27.5*27.5mm
更多 +

: 定制4pin（15.9x12.3mm)电极模块测试座

电极模块测试座规格参数：
模块引脚：4pin
模块尺寸：14*12mm
模块厚度：4mm
更多 +

: 定制QFN32pin-0.5mm-5x5mm合金旋钮翻盖探针测试座

QFN32pin芯片测试座规格参数
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：5*5mm
更多 +

: 定制QFN16pin-0.5mm-4x4mm翻盖合金探针测试架

QFN16pin芯片测试架规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.5mm
芯片尺寸：4×4mm
更多 +

: 定制LGA79pin-1.1mm（16x12.2mm)合金翻盖测试座

LGA79pin芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：79pin
芯片引脚间距：1.1mm
芯片尺寸：16×12.2mm
更多 +

: 定制QFN88pin-0.4mm(10x10mm)翻盖合金探针老化测试座

QFN88pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：88pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：10×10mm
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: 定制SOT89-5L-1.5mm（2.5x4.5mm）合金翻盖探针测试座

SOT89封装芯片测试座规格参数：
芯片封装类型：SOT89
芯片引脚：5pin
芯片引脚间距：1.5mm
芯片尺寸：2.5×4.5mm
更多 +

: 定制LGA36pin-0.8mm（9x9mm）合金翻盖探针测试座

LGA封装芯片探针测试座规格参数
芯片封装类型：LGA
芯片引脚：36pin
芯片引脚间距：0.8mm
芯片尺寸：9×9mm
更多 +

: 定制QFN100pin-0.4mm-12x12mm合金旋钮探针测试座

QFN芯片探针测试座规格参数：
芯片封装类型：QFN
芯片引脚：100pin
芯片引脚间距：0.4mm
芯片尺寸：12×12mm
更多 +

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