全站搜索 - qfn系列 - 鸿怡电子官网

您好，欢迎来到深圳市鸿怡电子有限公司官网

热门关键词：测试座老化座烧录座测试座厂家

鸿怡测试座采用进口玻铜材料

当前位置：首页 » 全站搜索 » 搜索：qfn系列

: 定制DFN20pin-1.2mm-12x12mm合金翻盖芯片测试座

DFN20pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：1.2mm
适配芯片尺寸：12*12mm
芯片厚度：0.6mm
更多 +

: 定制QFN36pin-0.8mm-9x9mm合金翻盖测试座

QFN36pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：36pin
芯片引脚间距：0.8mm
适配芯片尺寸：9*9mm
更多 +

: 定制DFN6pin-0.4mm-1.1x0.7mm合金翻盖探针测试座

DFN6pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：6pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：1.1*0.7mm
更多 +

: 定制QFN40pin-0.5mm-6x6mm合金翻盖探针测试座

QFN40pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：40pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：6*6mm
更多 +

: 定制QFN60pin-0.4mm-7*7mm合金旋钮翻盖探针测试座

QFN60pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：60pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：7*7mm
更多 +

: 定制QFN32pin-0.5mm-5x5mm合金顶窗下压测试座

QFN32pin芯片测试座规格参数：
品牌：HMILU
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：32pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：5*5mm
更多 +

: 定制QFN20pin-0.4mm-3x3mm合金顶窗下压测试座

QFN20pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：3*3mm
更多 +

: 定制QFN16pin-0.4mm-3x2mm芯片合金顶窗下压测试座

QFN16pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：16pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：3*2mm
更多 +

: 定制DFN13pin-0.4mm-3x3mm芯片合金翻盖探针测试座

DFN13pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：13pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：3*3mm
更多 +

: 定制QFN64pin-0.5mm-10x10mm合金双扣旋钮手自一体探针测试座

QFN64pin芯片手自一体测试座规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：64pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：10*10mm
适配芯片厚度：1mm
适用芯片ATE自动化测试、手动测试
更多 +

: 定制DFN8pin-0.5mm-2x2mm芯片合金翻盖无磁测试座

DFN8pin芯片无磁测试座规格参数：
适用芯片封装形式：DFN/USON/QFN/WSON
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*2mm
更多 +

: 定制QFN20pin-0.5mm-4x4mm芯片测试治具

QFN20pin芯片测试治具规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：20pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：4*4mm
更多 +

: USON8/DFN8pin-0.5mm-2X3mm军工级耐高低温芯片老化测试座

DFN8pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装形式：USON8/DFN8/QFN8/LGA8/WSON8
芯片引脚：8pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：2*3mm
更多 +

: 定制DFN14pin-0.4mm-2X2mm合金翻盖探针测试座

DFN14pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：14pin
芯片引脚间距：0.4mm
适配芯片尺寸：2*2mm
更多 +

: 定制CQFN21pin-0.6mm-7.5x7.5mm翻盖探针老化测试座

CQFN21pin芯片老化测试座规格参数：
芯片封装形式：CQFN
芯片引脚：21pin
芯片引脚间距：0.6mm
适配芯片尺寸：7.5*7.5mm
更多 +

: 定制DFN34pin-0.95mm-18x18mm合金翻盖探针测试座

DFN34pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：34pin
芯片引脚间距：0.95mm
适配芯片尺寸：18*18mm
芯片厚度：0.5mm
更多 +

: 定制QFN128pin-0.35mm-12.3x12.3mm合金旋钮翻盖测试座

QFN128pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：QFN
芯片引脚：128pin
芯片引脚间距：0.35mm
适配芯片尺寸：12.3*12.3mm
更多 +

: 射频类放大器芯片CQFN24pin-0.5mm-4.16x4.16mm塑胶翻盖探针老化座

射频类放大器芯片CQFN24pin老化座规格参数：
芯片封装形式：CQFN
芯片引脚：24pin
芯片引脚间距：0.5mm
适配芯片尺寸：4.16*4.16mm
更多 +

: 定制DFN13pin-0.9mm-6x6mm合金翻盖弹片测试座

DFN13pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：13pin
芯片引脚间距：0.9mm
适配芯片尺寸：6*6mm
芯片厚度：0.6mm
更多 +

: 定制DFN13pin-0.9mm-6x6mm合金翻盖探针测试座

DFN13pin芯片测试座规格参数：
芯片封装形式：DFN
芯片引脚：13pin
芯片引脚间距：0.9mm
适配芯片尺寸：6*6mm
更多 +

首页上一页 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 ...> 下一页尾页

相关搜索

QFN系列

热点聚焦

鸿怡电子测试座的应用介绍: 测试座就是一种具有测试...

探讨关于BGA测试座所具有的特点及价...: BGA测试座具有哪些特点？...

13632719880
在线客服

鸿怡电子二维码



