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» 搜索:芯片测试
定制QFN16pin-0.5mm-4x4mm翻盖合金探针测试架
QFN16pin
芯片测试
架规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:16pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:4×4mm
更多 +
定制LGA79pin-1.1mm(16x12.2mm)合金翻盖测试座
LGA79pin
芯片测试
座规格参数:
芯片封装类型:LGA
芯片引脚:79pin
芯片引脚间距:1.1mm
芯片尺寸:16×12.2mm
更多 +
定制QFN88pin-0.4mm(10x10mm)翻盖合金探针老化测试座
QFN88pin芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:88pin
芯片引脚间距:0.4mm
芯片尺寸:10×10mm
更多 +
定制SOT89-5L-1.5mm(2.5x4.5mm)合金翻盖探针测试座
SOT89封装
芯片测试
座规格参数:
芯片封装类型:SOT89
芯片引脚:5pin
芯片引脚间距:1.5mm
芯片尺寸:2.5×4.5mm
更多 +
定制LGA36pin-0.8mm(9x9mm)合金翻盖探针测试座
LGA封装芯片探针测试座规格参数
芯片封装类型:LGA
芯片引脚:36pin
芯片引脚间距:0.8mm
芯片尺寸:9×9mm
更多 +
定制QFN100pin-0.4mm-12x12mm合金旋钮探针测试座
QFN芯片探针测试座规格参数:
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:100pin
芯片引脚间距:0.4mm
芯片尺寸:12×12mm
更多 +
定制WLCSP10pin-0.4mm- 1.649x1.483mm塑胶翻盖探针测试座
WLCSP10pin
芯片测试
座规格参数:
芯片封装类型:WLCSP
芯片引脚:10pin
芯片引脚间距:0.4mm
芯片尺寸:1.649*1.483mm
更多 +
定制DFN8pin-0.65mm-2.8x3mm合金翻盖测试座
DFN8pin
芯片测试
座规格参数:
芯片封装类型:DFN
芯片引脚:8pin
芯片引脚间距:0.65mm
芯片尺寸:2.8*3mm
更多 +
定制LGA124pin-0.5mm-(8.2x10.5mm)合金旋钮探针老化座
LGA124pin芯片老化测试座规格参数:
芯片封装类型:LGA
芯片引脚:124pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:8.2*10.5mm
更多 +
定制TSOP50pin-0.5mm-16.6x23mm合金翻盖测试座
TSOP50pin
芯片测试
座规格参数:
芯片封装类型:TSOP
芯片引脚:50pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:16.6*23mm
更多 +
SOP16pin-JFP16pin翻盖老化测试座
SOP16pin芯片翻盖老化座规格参数
芯片封装类型:SOP
芯片引脚:16pin
芯片引脚间距:1.27mm
芯片本体尺寸:4.5mm
芯片含引脚尺寸:7.8mm
更多 +
SOP16pin-1.27mm下压老化座
SOP16pin芯片老化座规格参数
芯片封装类型:SOP
芯片引脚:16pin
芯片引脚间距:1.27mm
芯片本体尺寸:4.4mm
更多 +
定制BGA13pin(实际72pin)-0.5mm-4.5x5mm下压合金探针测试座
BGA13pin
芯片测试
座规格参数:
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:13pin(实际下针72pin)
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:4.5×5mm
更多 +
QFN32pin-0.5mm-5*5mm翻盖老化座
QFN32pin芯片老化测试座规格参数
芯片封装类型:QFN
芯片引脚:32pin
芯片引脚间距:0.5mm
芯片尺寸:0.5*0.5mm
更多 +
定制BGA144pin(只下35PIN)-0.75mm-9x9mm合金翻盖探针测试座
BGA144pin
芯片测试
座规格参数
芯片封装类型:BGA
芯片引脚:144pin
芯片引脚间距:0.75mm
芯片尺寸:9*9mm
芯片厚度:1.2mm
更多 +
QFN88pin-0.5mm-12×12mm芯片下压老化座
QFN88pin芯片老化座规格尺寸
A、型号:QFN-88-0.5
B、引脚间距(mm):0.5
C、脚位:88pin
D、芯片尺寸:12*12mm
E、对应国外型号790-62088-101T
更多 +
QFN64pin-0.4mm-8×8mm芯片下压老化座
QFN64pin芯片老化座规格尺寸
A、型号:QFN-64-0.4
B、引脚间距(mm):0.4、0.35、0.5mm
C、脚位:64pin
D、芯片尺寸:8*8mm、7*7mm
更多 +
QFN56pin-0.35mm-7×7mm下压老化测试座
QFN56pin芯片老化座规格尺寸:
型号:QFN-56-0.35
引脚间距(mm): 0.35
脚位:56pin
适配芯片尺寸:6*6 mm
更多 +
QFN60pin-0.4mm-8×8mm下压老化测试座
QFN60pin芯片老化座规格尺寸:
A、型号:QFN-60-0.4
B、引脚间距(mm):0.4
C、脚位:60pin
D、芯片尺寸:8*8mm
对应国外型号790-61060-101T
更多 +
QFN40pin-0.5mm-6*6mm下压弹片老化座
QFN40pin芯片老化座规格参数:
A、芯片封装型号:QFN
B、引脚间距(mm):0.5mm
C、脚位:40pin
D、芯片尺寸:6*6mm
E、 对应国外型号790-61040-101T
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